Требования, относящиеся к методу А. Обрыв
Метод обрыва является единственным методом, непосредственно вытекающим из определения затухания в волокне, при котором уровни мощности и измеряют в двух точках волокна без изменения условий ввода излучения. - мощность, получаемая на выходе волокна, и - мощность, получаемая в точке около входа этого же волокна после отрезания волокна. (Это объясняет широкое использование данного метода как эталонного метода испытания на затухание сигнала.)
Данный метод измерений не позволяет получить информацию о поведении затухания по длине волокна. Также нелегко измерить изменение затухания в изменяющихся условиях. В некоторых случаях разрушение оптического волокна, составляющее сущность данного метода, является его недостатком.
А.1 Оборудование
А.1.1 Общее оборудование для всех волокон
На рисунках А.1 и А.2 приведены схемы рекомендуемого размещения испытательного оборудования.
Рисунок А.1 - Расположение оборудования, используемого при измерении потерь для одной определенной длины волны
Рисунок А.2 - Расположение оборудования, используемого для получения спектра потерь
А.1.1.1 Общая схема ввода излучения
На рисунке А.3 приведена общая схема ввода излучения, используемая для всех волокон. В А.1.2-А.1.4 содержится подробная информация по применению данной схемы для отдельных категорий одномодовых и многомодовых волокон.
А.1.1.2 Источник оптического излучения
Используют соответствующий источник излучения, такой как лампа, лазер или светодиод. Выбор источника зависит от типа измерений. Источник должен быть устойчиво расположен, излучать с требуемыми интенсивностью и длиной волны в течение времени, достаточного для проведения измерений. Ширину спектральной линии выбирают так (на уровне 50% интенсивности излучения используемых источников), чтобы эта линия была узкой (к примеру, менее 10 нм), сравнимой со спектральной кривой затухания волокна. Волокно располагают на одной оси с конусом ввода излучения или соединяют его соосно с возбуждающим волокном.
Рисунок А.3 - Общая схема ввода излучения
А.1.1.3 Длина волны излучения источника
Измерения могут проводиться на одной или более длинах волн. С другой стороны, спектральный отклик может потребоваться по диапазону длин волн.
А.1.1.4 Блок приема оптического сигнала