ГОСТ 31588.3-2012 (ISO 18369-3:2006) Оптика офтальмологическая. Линзы контактные. Методы измерений

     4.2 Метод измерения с помощью микросферометра

4.2.1 Общие требования

4.2.1.1 Микросферометр локализует "изображение вершины поверхности" и "мнимое (зеркальное) изображение" (центр кривизны) по принципу Дрисдейла, как описано ниже. Расстояние между этими двумя точками - радиус кривизны сферической поверхности - известно как вершинный радиус кривизны асферической поверхности, полученный из конического сегмента. Микросферометр используют для измерения радиусов двух главных меридианов жесткой торической поверхности, а с помощью специальной наклонной насадки могут быть измерены эксцентрические радиусы, обнаруженные в торической периферии жесткой асферической поверхности. Радиус кривизны задней оптической зоны получают измерением задней поверхности контактной линзы.

4.2.1.2 Оптическая схема микросферометра представлена на рисунке 1. Оптический микросферометр состоит из светового микроскопа с осветителем отраженного света. Свет от миры Т отражается в тубус микроскопа посредством посеребренного зеркала М, проходит через объектив микроскопа и формирует изображение миры в точке Т'. Если фокус совпадает с поверхностью линзы, то свет отражается обратно по диаметрально противоположному пути и формирует изображения в точках Т и Т". Изображение в Т" совпадает с первым главным фокусом окуляра, когда наблюдатель видит резкое изображение [рисунок 1 а)]. Это называется "изображением вершины поверхности".

Расстояние между микроскопом и поверхностью линзы увеличивается путем поднятия микроскопа, либо опусканием линзы на столике микроскопа, пока изображение Т', формируемое объективом, не совпадет с С (центр кривизны поверхности). Свет от мишени Т падает на поверхность линзы и отражается обратно по тому же пути, формируя изображения в Т и Т", согласно рисунку 1 б). Наблюдатель снова видит резкое изображение. Это называется "мнимым (зеркальным) изображением".     

С - центр кривизны поверхности, которую нужно измерить; Т - мира; Т' - изображение Т в самосопряженной точке; Т" - изображение Т', расположенное в первом главном фокусе окуляра, ТМ=МТ"; М - полусеребряное зеркало; - радиус кривизны поверхности контактной линзы

Рисунок 1 - Оптическая схема микросферометра

Расстояние между микроскопом и поверхностью линзы увеличивается путем поднятия микроскопа, либо опусканием линзы на столике микроскопа, пока изображение Т', формируемое объективом, не совпадет с С (центр кривизны поверхности). Свет от мишени Т падает на поверхность линзы и отражается обратно по тому же пути, формируя изображения в Т и Т", согласно рисунку 1 б). Наблюдатель снова видит резкое изображение. Это называется "мнимым (зеркальным) изображением".

Расстояние, на которое переместились микроскоп или столик, равно радиусу кривизны поверхности линзы. Расстояние перемещения измеряют аналоговым или цифровым измерителем расстояний, встроенным в прибор.

4.2.1.3 В случае торической поверхности определяют радиус кривизны, измеренный в каждом из двух главных меридианов, совмещенных с линиями в освещенной мире микросферометра.

Допускается радиус кривизны передней поверхности измерять путем ориентирования линзы таким образом, чтобы ее передняя поверхность была обращена к микроскопу. В этом случае "мнимое (зеркальное) изображение" находится ниже линзы. Необходимо переместить вниз фокус микроскопа в Т' из первоначального положения на вершине передней поверхности линзы, чтобы Т' совпал с С.

4.2.2 Требования к средствам измерения, вспомогательным устройствам и порядок подготовки к измерениям

4.2.2.1 При измерении применяют оптический микросферометр, включающий в себя световой микроскоп с осветителем отраженного света и мирой и снабженный механизмом точной фокусировки. Регулировочное устройство обеспечивает плавное перемещение микроскопа или столика. Регулировочный измеритель снабжен линейной шкалой.

4.2.2.2 Минимальное увеличение линзы объектива должно быть 6,5, числовая апертура не менее 0,25. Полное увеличение должно быть не менее 65. Диаметр действительного изображения миры, формируемого микроскопом, должен быть не более 1,2 мм.

4.2.2.3 Цена деления шкалы измерительного инструмента должна составлять не более 0,02 мм. Точность измерительного инструмента должна составлять ±0,010 мм для показаний 2,00 мм или более при температуре (20±5) °С. Воспроизводимость измерительного инструмента должна быть ±0,003 мм.

Примечания:

1 Термин "измерительный инструмент" относится и к аналоговому, и к цифровому измерительному инструменту.

2 "Воспроизводимость" означает близкое совпадение взаимонезависимых результатов измерения, полученных при одних и тех же условиях.

4.2.2.4 В механизме измерительного инструмента должно быть встроено средство для устранения люфта (обратного хода). Если показания снимаются в одном направлении, люфт можно не учитывать.

4.2.2.5 Освещенная мира состоит из четырех линий, радиально пересекающихся в центре, повернутых относительно друг друга на 45°.

4.2.2.6 Конструкцией микросферометра должен быть предусмотрен держатель для контактных линз, который удерживает опорную плоскость контактной линзы перпендикулярно к оптической оси прибора. Держатель должен регулироваться в поперечном направлении так, чтобы вершину поверхности контактной линзы можно было отцентрировать относительно оси. Держатель контактной линзы должен обеспечивать нейтрализацию нежелательных отражений от поверхности контактной линзы, не подлежащей измерению.

4.2.2.7 Калибровка прибора перед началом измерения должна проводиться с использованием трех вогнутых испытательных пластинок (тест-пластинок), изготовленных из крона, со следующими сферическими радиусами:

- пластинка 1: от 6,30 до 6,70 мм;

- пластинка 2: от 7,80 до 8,20 мм;

- пластинка 3: от 9,30 до 9,70 мм.

Радиусы испытательных пластинок должны быть известны с точностью ±0,0075 мм.

4.2.2.8 Калибровку следует проводить в помещении с температурой (20±5) °С. Прибор должен иметь достаточное время для стабилизации температуры.

4.2.2.9 Калибровку проводят следующим образом:

- установить первую испытательную пластинку так, чтобы оптическая ось светового микроскопа располагалась перпендикулярно испытуемой поверхности;