ГОСТ Р 8.743-2011/
ISO/TR 14999-1:2005
Группа Т80.10
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Государственная система обеспечения единства измерений
ОПТИКА И ФОТОНИКА. ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ И СИСТЕМ
Часть 1
Термины, определения и основные соотношения
State system for ensuring the uniformity of measurements. Optics and photonics. Interferometric measurements of optical elements and systems. Part 1. Terms, definitions and fundamental relationships
ОКС 17.180*
_______________
* В ИУС 4-2013 год ОКС 37.020. -
Примечание изготовителя базы данных.
Дата введения 2013-03-01
Предисловие
Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. N 184-ФЗ "О техническом регулировании", а правила применения национальных стандартов Российской Федерации - ГОСТ Р 1.0-2004 "Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения"
Сведения о стандарте
1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы" (ФГУП "ВНИИМС")
2 ВНЕСЕН ТК 53 "Основные нормы и правила по обеспечению единства измерений" Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 13 декабря 2011 г. N 1066-ст
4 Настоящий стандарт идентичен международному документу ИСО/ТО 14999-1:2005* "Оптика и фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 1. Термины, определения и фундаментальные связи" (ISO/TR 14999-1:2005 "Optics and photonics - Interferometric measurement of optical elements and optical systems. Part 1: Terms, definitions and fundamental relationships")
________________
* Доступ к международным и зарубежным документам, упомянутым в тексте, можно получить, обратившись в Службу поддержки пользователей. - Примечание изготовителя базы данных.
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты", а текст изменений и поправок - в ежемесячно издаваемых указателях "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячно издаваемом указателе "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет
Техническим комитетом ISO/ТС 172/SC1 была подготовлена серия международных стандартов "Обозначения в технических чертежах оптических элементов и систем", опубликованная как ИСО 10110 под общим названием "Оптика и фотоника - Разработка технической документации на оптические элементы и системы". После предварительного опубликования этой серии и особенно ее части 5 "Допуски на отклонения формы поверхности" и части 14 "Допуски на деформации волнового фронта" стала очевидной потребность в дополнительной документации, регламентирующей необходимую для описания изготавливаемых оптических изделий информацию с учетом допусков. В связи с этим ISO/ТС 172/SC1 решил подготовить технический доклад "Интерферометрия оптических волновых фронтов и форм поверхностей оптических элементов".
В ходе дискуссий было выяснено, что впервые технический доклад или международный стандарт, подготавливаемый ИСО, имеет отношение к волновой оптике, т.е. базируется на основах не геометрической, а физической оптики.
Этот проект стандарта (технический доклад) освещает первоочередные потребности специалистов в части определения качества оптических элементов и в целом оптических систем, причем основное внимание уделено погрешностям определения параметров и искажениям волнового фронта. Эти погрешности и искажения охватывают всю шкалу пространственных частот, однако в докладе их спектр ограничен только его низкочастотным и среднечастотным диапазонами. Высокочастотные погрешности и искажения волнового фронта могут быть определены либо методами микроскопии, либо путем измерения характеристик рассеянного света или же с использованием неоптических способов зондирования поверхности.
Аналогичное ограничение было введено и применительно к диапазону длин волн излучения источников, используемых в интерферометрах: в ИСО 14999 рассматриваются методы испытаний и измерений в основном в видимом диапазоне оптического спектра. В некоторых случаях при исследовании необработанных поверхностей, полученных после шлифования, применяются -лазеры с длиной волны 10,6 мкм, а при контроле оптики, используемой в микролитографии, - эксимерные лазеры с длинами волн ~193 и ~248 нм. Однако в данном докладе эти спектральные диапазоны упоминаются в редких случаях, а остальные участки оптического спектра остаются вне рассмотрения.
Настоящий стандарт содержит термины, определения, а также фундаментальные физические и технические принципы интерферометрии оптических волновых фронтов и форм поверхностей оптических элементов. Описано влияние измеряемых волновых фронтов на выбор конструкции и способ применения того или иного интерферометра. Поскольку все виды волновых фронтов (за исключением сверхпротяженных плоских волн) изменяют свою форму по мере распространения, в настоящем стандарте приведены основополагающие сведения из теории распространения электромагнитных волн, а также описаны принципы двухлучевой интерференции.
С целью получения фазовой информации из результатов измерений распределения интенсивности как во времени, так и в пространстве, описание распространения волн в оптическом диапазоне частот проводится с использованием концепции комплексной амплитуды.
Кроме того, рассмотрены присущие интерферометрии источники систематических и случайных погрешностей.
Основные параметры, обозначения, единицы и константы приведены в таблице 1, а операторы и вычислительные процедуры - в таблице 2.
Таблице 1 - Параметры, обозначения, единицы, константы
Параметры | Обозначения | Рекомендуемые единицы, константы |
Вектор электрического поля; электрический вектор | В/м | |
Вектор магнитного поля; магнитный вектор | А/м | |
Электрическое смещение; электрическая индукция | Кл/м = А·с/м | |
Магнитная индукция; плотность магнитного потока | Тл = Вб/м = В·с/м | |
Диэлектрическая проницаемость* | Ф/м = А·с/В·м | |
Диэлектрическая проницаемость вакуума | 8,854·10 Ф/м | |
Относительная диэлектрическая проницаемость | 1 | |
Магнитная проницаемость** | Гн/м = В·с/А·м | |
Магнитная проницаемость вакуума | 1,257·10 Гн/м | |
Относительная магнитная проницаемость | 1 | |
Скорость распространения волны в среде | м/с | |
Скорость распространения волны в вакууме | 299792458·10 м/с | |
Абсолютный показатель преломления | 1 | |
* Математическое соотношение: . |
Таблица 2 - Операторы и вычислительные процедуры
Оператор | Определение/вычислительные процедуры | Наименование (тип) |
Набла (вектор) | ||
Лапласиан (скаляр) |
Уравнения Максвелла являются фундаментом теории распространения электромагнитных волн. Для среды, не содержащей электрических зарядов и токов и обладающей пренебрежимо малой электропроводностью, уравнения Максвелла записываются в форме:
. (1)
Соотношение между и , равно как и между и , выглядит следующим образом:
. (2)
Оно справедливо применительно лишь к линейным средам.
Для среды с однородными распределениями и уравнения (1) трансформируются к виду:
. (3)
2.4 Скорость распространения волны
В оптически однородной и изотропной среде
. (4)
Аналогично в вакууме
. (5)
Показателем преломления или абсолютным показателем преломления среды с проницаемостями и именуется отношение скоростей распространения волны в вакууме и в среде, т.е.
. (6)
Как , так и являются векторами. Однако во многих приложениях приходится иметь дело с линейно поляризованным оптическим излучением, которое может быть полностью описано с использованием лишь одного вектора (как правило, вектора ). Тогда уравнение (3) сводится к скалярному волновому уравнению, в общем виде записываемому в форме
. (7)
Уравнение (7) соответствует дифференциальному уравнению второго порядка, a именуется световым возмущением.
Основной проблемой теории распространения света является, таким образом, определение способа или пути распространения волны от одной поверхности к другой.
Положим, что синусоидальная плоская электромагнитная волна распространяется в направлении . Тогда световое возмущение оказывается функцией двух аргументов: координаты и времени