ГОСТ Р 54836-2011/IEC/TR 60825-13:2006 Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 13. Измерение для классификации лазерной аппаратуры (с Поправкой)

     4 Назначение

4.1 Общие положения

Настоящий стандарт предназначен в качестве справочного руководства (но не имеющего ограничительный характер) для использования производителями, испытательными лабораториями, персоналом, контролирующим безопасность труда, представителями (чиновниками) промышленности и правительственными властями. Настоящий стандарт содержит также интерпретацию МЭК 60825-1 касающихся вопросов измерения и содержит дополнительный пояснительный материал.

4.2 Предварительное рассмотрение

Перед проведением радиометрических измерений в целях классификации аппаратуры или в соответствии с другими применяемыми требованиями МЭК 60825-1 необходимо первоначально определить некоторые параметры лазера.

a) Длина волны излучения

Лазеры могут испускать излучение на одной или более определенных длинах волн.

Значения излучаемой длины волны, длин волн или спектральное распределение длины волны обычно могут быть получены от производителя лазера. В зависимости от типа лазера производитель может установить как единственное значение длины волны, так и диапазон длин волн. В ином случае длина волны, длины волн или спектральное распределение могут быть определены посредством измерений, которые не включены в настоящий стандарт. Для определения (AEL) для многочисленных длин волн см. 7.1.

b) Временной режим работы

Временной режим работы имеет отношение (относится) к режиму излучения энергии. Некоторые лазеры испускают постоянную (непрерывную) волну излучения (CW), а другие лазеры испускают энергию импульсно.

Импульсные лазеры могут быть с одиночным импульсом, переключателем добротности, периодическими импульсами или режимом блокировки. Измерение сканирующего или модулирующего CW-излучения при фиксированном размещении тоже является результатом последовательности импульсов.

Кроме того, последовательность импульсов может быть закодирована, но она имеет среднее значение коэффициента заполнения периода импульса (время излучения как часть фактической продолжительности работы, выраженная в десятых долях или в процентах).

c) Условия достаточно возможного единичного дефекта

Согласно МЭК 60825-1 установлено, что испытания должны быть проведены для каждого и всех возможных предсказуемых условий единичного дефекта. Обязанностью производителя является гарантировать, что уровень допустимого излучения не превысит (AEL) установленного класса при любых условиях.

d) Неопределенности измерений

Важно рассмотреть потенциальные источники ошибок при измерении лазерного излучения. Неопределенности измерений рассматриваются в разделе 5 настоящего стандарта.

e) Побочное излучение

Побочное излучение, проникающее в измерительную апертуру, может повлиять на результат измерения мощности или энергии и длительности импульса. Персонал, проводящий испытания, должен гарантировать, что побочное излучение не достигает приемника (детектора) с помощью блока установки измерений или с помощью учета побочного излучения.

f) Конфигурация аппаратуры

Если измерения проводятся с целью классификации, то должны быть известны конфигурации аппаратуры при всех установленных условиях эксплуатации, включая ремонт и обслуживание, и должны быть известны условия единичных дефектов. Если измерения проводятся для определения соответствия требованиям по безопасности блокировок, маркировки и информации для пользователя, то аппаратура должна быть в конфигурации применительно для каждой из определенных категорий использования (функционирование, обслуживание, ремонт) в соответствии с МЭК 60825-1.

Технический комитет МЭК (ТК 76) признает иные эквивалентные процедуры измерений, которые приводят к результатам таким же надежным, как процедуры, установленные настоящим стандартом. Процедуры измерений, установленные настоящим стандартом, пригодны для соответствующих процедур измерений, установленных МЭК 60825-1, если проведение измерений необходимо. Во многих случаях проводить радиометрические измерения нет необходимости, и соответствие требованиям МЭК 60825-1 может быть определено путем проведения анализа хорошо известного источника и конструкции фактической аппаратуры.

При некоторых обстоятельствах может возникнуть необходимость частичной разборки аппаратуры, чтобы провести измерения в соответствующем месте, особенно для выполнения требований возможного единичного дефекта. В случае, если лазерная аппаратура содержит другие лазерные приборы и системы, то конечная аппаратура является предметом рассмотрения МЭК 60825-1.