6.1 Испытания должны выполняться в такой области поверхности образца, которая позволит определить -диаграмму индентирования для соответствующего диапазона и с требуемой неопределенностью. В области контакта наконечника с испытуемым образцом не должно быть жидкостей или смазочных материалов, за исключением мест, где это необходимо для выполнения испытания, что должно быть зафиксировано в протоколе измерений. Не допускается попадание посторонних веществ (частиц пыли) в область контакта.
Влияние шероховатости поверхности испытуемого образца на неопределенность результатов измерений приведено в приложении Е. Финишная обработка поверхности образца может оказывать значительное влияние на результаты измерений.
Поверхность образца должна быть перпендикулярна к оси приложения нагрузки.
При расчете неопределенности следует учитывать наклон поверхности образца. Обычно отклонение перпендикуляра к поверхности образца от оси приложения нагрузки составляет менее 1°.
6.2 Подготовка поверхности образца должна выполняться так, чтобы минимизировать любые изменения поверхностной твердости, например, связанные с холодной обработкой.
В связи с небольшой глубиной индентирования в микро- и нанодиапазоне во время подготовки поверхности образца следует предпринимать особые меры предосторожности. Необходимо использовать процесс полировки, подходящий для конкретных материалов (например, электрополировку).
6.3 Толщина испытуемого образца должна быть достаточно большой (или достаточно малой должна быть глубина индентирования), чтобы влияние подложки на результат измерения было малым. Толщина испытуемого образца должна превышать глубину индентирования минимум в 10 раз или в 3 раза превышать диаметр зоны индентирования (см.примечание в 7.7).
При испытании покрытий толщина покрытия должна рассматриваться как толщина испытуемого образца.
Примечание - Эти ограничения обоснованы эмпирически. Точные пределы влияния подложки на результаты измерения механических свойств испытуемого образца зависят от геометрии используемого наконечника и свойств материалов испытуемого образца и подложки.