В настоящем стандарте применены следующие обозначения и сокращения:
- осевая неоднородность;
- возможность исправления ошибки символа;
- число потерь изображения;
- повреждение фиксированных шаблонов;
- неоднородность сетки;
- глобальный порог;
- измеренное значение разницы между коэффициентом отражения модуля и глобальным порогом; значение стремится к нулю для модуля с ненадлежащим значением коэффициента отражения;
- модуляция;
- наибольший коэффициент отражения для любого элемента или свободной зоны в профиле отражения при сканировании или наибольший коэффициент отражения на любом измеряемом участке в двумерном матричном символе;
- наименьший коэффициент отражения для любого элемента в профиле отражения при сканировании или наименьший коэффициент отражения на любом измеряемом участке в двумерном матричном символе;
- контраст символа (соответствующий );
- число ошибок;
- неиспользованное исправление ошибок.