Сущность метода состоит в определении спектральной кривой зеркального отражения, измеренной в диапазоне длин волн от 5 до 50 мкм при угле падения пучка излучения, близком к нормальному, вычислении нормальной излучательной способности поверхности и последующем вычислении коэффициента эмиссии.