ГОСТ Р 54164-2010 (ИСО 9050:2003) Стекло и изделия из него. Методы определения оптических характеристик. Определение световых и солнечных характеристик

     3.2 Проведение оптических измерений

Оптические измерения коэффициентов пропускания и отражения требуют особой тщательности и больших экспериментальных навыков, чтобы обеспечить погрешность определения коэффициентов пропускания и отражения не более ±0,01.

В промышленных спектрофотометрах (с интегрирующими сферами или без них) имеется ряд источников погрешности при измерениях коэффициентов пропускания и отражения листовых строительных стекол.

Калибровку шкалы длин волн и линейность фотометрической шкалы промышленных спектрофотометров необходимо периодически проверять с помощью эталонов, полученных в метрологических лабораториях.

Шкалу длин волн калибруют путем проведения измерений на стеклянных пластинах или растворах с относительно узкими полосами поглощения при определенных длинах волн; линейность фотометрической шкалы проверяют с помощью нейтральных фильтров с определенным уровнем пропускания.

Для измерения коэффициентов отражения следует использовать эталоны с отражающими свойствами (т.е. уровнем отражения и соотношением рассеянного и прямого отражения), близкими к испытуемым образцам.

Толстые образцы (например, многослойное стекло или стеклопакеты) могут изменять оптический путь луча прибора по сравнению с оптическим путем в воздухе, поэтому луч, прошедший через образец, может попадать на область детектора, отличающуюся по чувствительности.

Подобный источник погрешности возникает при работе с клиновидными образцами, искажающими прошедшие (отраженные) лучи. Рекомендуется проверять сходимость результатов путем проведения повторных измерений после поворота образца.

Кроме того, при измерении коэффициентов отражения листы стекла вызывают боковой сдвиг луча, отраженного от второй поверхности, приводя к потерям отражения (что особенно заметно в случае толстых и/или клиновидных образцов). Этот источник погрешности следует принимать во внимание, в особенности при измерении коэффициентов отражения со стороны без покрытия. Чтобы определить количественно и скорректировать систематические ошибки, рекомендуется использовать отражающие эталоны примерно той же толщины, что и у измеряемых образцов.

Измерение коэффициентов пропускания и отражения рассеивающих образцов (или образцов, имеющих заметную долю рассеяния, или клиновидных образцов) следует проводить с использованием интегрирующих сфер, размеры которых позволяют собрать все рассеянное прошедшее или отраженное излучение. Сфера должна иметь соответствующий диаметр, а ее внутренняя поверхность должна быть покрыта материалом с высоким коэффициентом рассеянного отражения, чтобы обеспечить необходимую многократность отражений. Как указано выше, следует использовать эталоны с характеристиками, близкими к испытуемым образцам.

Если на кривой пропускания или отражения, зарегистрированной спектрофотометром, отмечается высокий уровень шумов в некотором диапазоне, значения характеристик в этом диапазоне получают после сглаживания шумов.

В настоящем стандарте указанные требования не рассматриваются в деталях. Дополнительные сведения изложены в [3], где приведена полная и подробная информация по проведению оптических измерений.