Статус документа
Статус документа

РДИ 38.18.017-94 Инструкция по магнитопорошковому контролю оборудования и сварных соединений

     2. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ

2.1. Магнитопорошковый метод дефектоскопии предназначен для выявления поверхностных и подповерхностных нарушений сплошности: трещин различного происхождения, непроваров сварных соединений, волосовин, флокенов, закатов, надрывов и т.п.

2.2. Магнитопорошковый метод основан на намагничивании контролируемого изделия и выявлении магнитного поля рассеяния, возникающего над дефектом, с помощью ферромагнитных частиц, играющих роль индикатора.

2.3. Магнитопорошковый метод применим для контроля объектов только из ферромагнитных материалов, магнитные свойства которых, формы и размеры дают возможность создавать в местах нарушения сплошности магнитные поля рассеяния, достаточные для притяжения частиц магнитного порошка.

Магнитопорошковый метод позволяет контролировать изделия с немагнитными покрытиями (краска, цинк, хром, кадмий, полимерные пленки и т.д.) если толщина покрытия не превышает 100 мкм.

2.4. Чувствительность и разрешающая способность магнитопорошкового метода зависят от качества магнитного порошка, магнитных характеристик материала объекта контроля, его формы, размеров и шероховатости поверхности, от напряженности намагничивающего поля и направления намагничивающего потока к плоскости дефекта, от способа намагничивания и условий регистрации индикаторного рисунка (осаждения магнитного порошка в месте расположения дефекта), от освещенности осматриваемого участка объекта контроля и др. факторов.

2.5. Предельная чувствительность магнитопорошкового метода дефектоскопии при благоприятных условиях контроля соответствует выявлению несплошностей с раскрытием 1 мкм и более, глубиной 10 мкм и более и протяженностью 0,5 мм и более. При контроле сварных соединений с неснятым валиком усиления, выполненных ручной сваркой, чувствительность снижается на порядок и более.

2.6. Наилучшая выявляемость дефекта достигается при расположении его плоскости перпендикулярно направлению магнитного потока. Если дефект наклонен к поверхности объекта контроля под углом менее 20°, выявление дефекта не гарантируется.

2.7. Подповерхностные дефекты обнаруживаются хуже, чем поверхностные. Дефекты, залегающие на глубине более 2-3 мм от поверхности, могут быть не обнаружены. Чувствительность к выявлению подповерхностных дефектов ниже указанной в п.2.5.

2.8. Чистота обработки контролируемых магнитопорошковым методам поверхностей должна соответствовать по параметру шероховатости 10 мкм.


Изделия, имеющие грубообработанную поверхность (80), грубые риски, забоины, наклеи и другие повреждения, контролировать нецелесообразно в связи с возможностью регистрации ложных дефектов.

2.9. В зависимости от размеров выявляемых поверхностных дефектов согласно ГОСТ 21105-75* устанавливаются три условных уровня чувствительности, указанных в таблице 1.

________________

* На территории Российской Федерации документ не действует. Действует ГОСТ 21105-87. - Примечание изготовителя базы данных.

Таблица 1

     
Классификация уровней чувствительности

Условный уровень чувствительности

Чувствительность контроля

Максимально допустимая шероховатость контролируемой поверхности, мкм (по ГОСТ 2789-73)

ширина (раскрытие) условного дефекта, мкм

Глубина условного дефекта, мкм


А

2,5

25

2,5

Б

10

100

40

В

25

250

40



2.10. При соблюдении всех требований настоящей инструкции чувствительность при контроле соответствует уровню Б ГОСТа 21105-87 и позволяет выявлять поверхностные дефекты с раскрытием 10 мкм, глубиной 100 мкм и протяженностью свыше 0,5 мм.

На практике уровень чувствительности Б применяют для контроля деталей насосно-компрессорного оборудования и сварных швов со снятым валиком усиления и уровень чувствительности В - для сварных швов при наличии валика усиления.