В настоящем стандарте применены следующие сокращения:
- НЧ - наночастицы;
- ФМТ - физико-химические, морфологические и топографические.
Сокращения, приведенные в таблице 1, применены в пункте 7.
Таблица 1 - Методологические сокращения
Сокращение | Аналитический метод |
ОЭМ | Оже электронная спектроскопия, включая туннельный оже |
АСМ/СЗМ | Атомно-силовая микроскопия/Сканирующая зондовая микроскопия, включая топографическую неоднородность и фазовый контраст |
БЭТ | Бруно-Эммет-Тэллер, метод измерения пористости |
КЛСМ | Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия |
ДМТА | Динамический механотермический анализ |
ДСК | Дифференциальная сканирующая калориметрия |
ЭЗМА | Электронный зондовый микроанализ |
РСР | Равновесное содержание растворителя |
РСВ | Равновесное содержание воды |
ЭДРА-СЭМ | Энерго-дисперсионный рентгеновский анализ-сканирующая электронная микроскопия |
ФИКС | Фурье ИК-спектроскопия, включая микроскопию, получение изображения и диффузное отражение |
ФИКС-МНПВО | Фурье ИК-спектроскопия многократного нарушенного внутреннего отражения |
ИК | Инфракрасная (спектроскопия) |
ОМ | Оптическая микроскопия |
КМВ | Кварцевые микровесы (или другие методы микровзвешивания) |
СЭМ/ЭМП | Сканирующая электронная микроскопия/Электронная микроскопия пропускания |
ППР | Поверхностный плазмонный резонанс |
ВП/ВИМС | Время-пролетная/Вторично ионизационная масс-спектроскопия |
ТМА | Термомеханический анализатор |
РФС/ЭСХА | Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия/Электронная спектроскопия для химического анализа |