ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

     5 Средства измерений и вспомогательные устройства

5.1 Просвечивающий электронный микроскоп (далее - микроскоп), должен иметь следующие технические характеристики:

- разрешающая способность микроскопа по межплоскостным расстояниям кристаллической решетки должна быть не менее 0,2 нм;

- ускоряющее напряжение должно быть в диапазоне от 80 до 400 кВ;

- относительное отклонение ускоряющего напряжения высоковольтного источника электронов должно быть не более 10% в течение 30 мин его работы.

Микроскоп должен быть оснащен системой регистрации электронограмм и изображений, включающей в себя:

- устройство для фоторегистрации на фотопленку (фотопластинки);

- двумерное матричное электронное устройство регистрации (например, CCD камера) или растровое устройство регистрации.

Микроскоп должен быть оснащен электронно-вычислительным устройством, позволяющим:

- осуществлять визуальный контроль дифракционной картины и изображения на экране монитора;

- производить запись электронограмм и изображений в память электронно-вычислительного устройства;

- измерять расстояния между рефлексами на электронограмме или между линиями на изображении.

Микроскоп должен быть оснащен системой замкнутого водяного охлаждения.

5.2 Кристаллодержатель, обеспечивающий:

- возможность наклона образца относительно двух взаимно-перпендикулярных осей, лежащих в плоскости, параллельной плоскости флуоресцентного экрана и перпендикулярной к оптической оси колонны микроскопа;

- перемещение образца в двух взаимно-перпендикулярных направлениях в азимутальной плоскости.

5.3 Образец кристаллической структуры (далее - калибровочный образец), в формуляре которого должны быть приведены следующие данные:

- наименование вещества;

- тип кристаллической структуры;

- значения межплоскостных расстояний не менее чем для трех кристаллографических плоскостей с различными наборами индексов Миллера;

- относительная погрешность измерения межплоскостных расстояний не более 5%, вычисленной при выполнении условий окружающей среды, приведенных в разделе 9.

5.4 Средства контроля состояния окружающей среды и иных условий проведения измерений с относительными погрешностями не более 30% значений допусков, установленных в разделе 9.