ГОСТ 8.557-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Государственная поверочная схема для средств измерений спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм (с Поправкой)

     3 Вторичные эталоны

3.1 Вторичные эталоны единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм

3.1.1 В качестве вторичных эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм используют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений:

3.1.1.1 Суммарные СКО результатов измерений при сличении вторичных эталонов с ГПЭ при 10 независимых наблюдениях составляют от 0,0010 до 0,0015.

Суммарные СКО результатов измерений при сличении вторичных эталонов с ГПЭ при 10 независимых наблюдениях составляют:

- от 0,0004 до 0,0043 Б в диапазоне измерений от 0,01 до 1,00 Б;

- от 0,0043 до 0,0430 Б в диапазоне измерений от 1,00 до 2,00 Б.

Суммарные СКО результатов измерений при сличении вторичных эталонов с ГПЭ при 10 независимых наблюдениях составляют от 0,0035 до 0,0200.

Суммарные СКО результатов измерений при сличении вторичных эталонов с ГПЭ при 10 независимых наблюдениях составляют от 0,001 до 0,02

0.

3.1.1.2 Наборы мер применяют для передачи размеров единиц рабочим эталонам и рабочим средствам измерений методом прямых измерений и сличением с помощью компаратора (спектрофотометра).

3.1.2 В качестве вторичных эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм используют спектрофотометрические установки в диапазонах измерений:

3.1.2.1 Суммарные СКО результатов измерений в относительной форме при сличении вторичных эталонов с ГПЭ при 10 независимых наблюдениях составляют от 0,0010 до 0,0015 в диапазоне измерений от 0,001 до 0,100.

Суммарные СКО результатов измерений при сличении вторичных эталонов с ГПЭ при 10 независимых наблюдениях составляют от 0,0010 до 0,0015.

Суммарные СКО результатов измерений при сличении вторичных эталонов с ГПЭ при 10 независимых наблюдениях составляют:

- от 0,0004 до 0,0043 Б в диапазоне измерений от 0,01 до 1,00 Б;

- от 0,0043 до 0,0430 Б в диапазоне измерений от 1,00 до 2,00 Б.

Суммарные СКО результатов измерений при сличении вторичных эталонов с ГПЭ при 10 независимых наблюдениях составляют от 0,0035 до 0,0200.

Суммарные СКО результатов измерений при сличении вторичных эталонов с ГПЭ при 10 независимых наблюдениях составляют от 0,001 до 0,

020.

3.1.2.2 Спектрофотометрические установки применяют для передачи размеров единиц рабочим эталонам и рабочим средствам измерений методом прямых измерений, сличением с помощью компаратора (набора мера) и методом косвенных измерений.

3.2 Вторичные эталоны единиц интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм

3.2.1 В качестве вторичных эталонов единиц интегральных (для заданных источников излучения) и редуцированных (для заданных источников излучения и редуцирующих функций) коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм используют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов нейтрального оптического стекла, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений: