ПНАЭ Г-7-015-89 Унифицированные методики контроля основных материалов (полуфабрикатов), сварных соединений и наплавки оборудования и трубопроводов АЭУ. Магнитопорошковый контроль

1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1.1. Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля основан на обнаружении с помощью ферромагнитных частиц магнитных полей рассеяния, возникающих над поверхностными и подповерхностными несплошностями металла контролируемого объекта при его намагничивании.

Метод предназначен для выявления несплошности металла (трещин, закатов, непроваров, включений, флокенов и т.п.) изделий и ферромагнитных материалов с относительной магнитной проницаемостью не менее 40. Метод не гарантирует выявление несплошностей, плоскости которых параллельны контролируемой поверхности или составляют с ней и направлением намагничивающего поля угол менее 30°.

1.2. Магнитопорошковый метод позволяет контролировать полуфабрикаты, изделия, сварные соединения и наплавки любых размеров и форм.

Необходимым условием для проведения магнитопорошкового контроля является наличие доступа к контролируемой поверхности, достаточного для подвода намагничивающих устройств, нанесения индикаторных средств и визуального ее осмотра.

1.2.1. Проведение контроля в вечернее и ночное время снижает внимание дефектоскописта.

1.3. Чувствительность магнитопорошкового метода определяется следующими характеристиками:

- магнитной индукцией ;

- остаточной магнитной индукцией ;

- коэрцитивной силой ;

- шероховатостью контролируемой поверхности;

- формой и размером контролируемого объекта;

- напряженностью намагничивающего поля;

- толщиной немагнитных покрытий;

- ориентацией намагничивающего поля по отношению к плоскости несплошности металла;

- качеством дефектоскопических средств;

- освещенностью контролируемой поверхности.

1.4. В зависимости от размеров выявляемых поверхностных несплошностей устанавливаются три условных уровня чувствительности, определяемых минимальной шириной и протяженностью условного дефекта. При этом под условным дефектом понимается поверхностный дефект в форме плоской щели с параллельными стенками, ориентированный перпендикулярно к контролируемой поверхности и направлению магнитного поля, и с соотношением глубины к ширине, равным 10.

1.5. Условные уровни чувствительности в зависимости от размеров условных дефектов и шероховатости контролируемой поверхности приведены в табл.1.

Таблица 1

1.6. Необходимость и объем магнитопорошкового контроля, а также нормы оценки качества и уровень чувствительности при контроле полуфабрикатов и основного металла изделий должны соответствовать установленным стандартам (техническим условиям) на полуфабрикаты и (или) конструкторской документации на изделие, а при контроле сварных соединений и наплавок - требованиям документа "Оборудование и трубопроводы атомных энергетических установок. Сварные соединения и наплавки. Правила контроля" ПНАЭ Г-7-010-89.

1.7. Контролю магнитопорошковым методом подлежат поверхности изделий (полуфабрикатов), определенные в соответствии с требованиями действующей нормативно-технической документации для сварных соединений и наплавки в соответствии с требованиями ПНАЭ Г-7-010-89.

1.8. Магнитопорошковый контроль проводится по технологическим картам контроля, в которых указываются как минимум следующие сведения:

- номер документа, по которому проводится контроль;