ГОСТ Р МЭК 793-1-93 Волокна оптические. Общие технические требования

16. МЕТОД А4. МЕХАНИЧЕСКОЕ ИЗМЕРЕНИЕ ДИАМЕТРА

16.1. Назначение

Настоящий метод применим для механического измерения диаметра оболочки стеклянного или кварцевого оптического волокна. На практике для гладких и круглых волокон результат измерений аналогичен результатам, полученным по методам А1 и А2, которые также позволяют определить некруглость волокон. Данный метод может быть использован для измерения диаметра покрытия некоторых типов волокон с покрытием или защитной оболочкой или волокон категории A3 или А4.

В данном методе обе стороны изделия контактируют с плоскими параллельными поверхностями, расстояние между которыми точно измеряется.

16.2. Область распространения

Диаметры волокна без покрытия и волокна с покрытием являются основными значениями, которые должны быть известны для выполнения последующих операций, таких как переработка, сращивание, установка соединителей, изготовление кабелей и измерения.

16.3. Испытательное устройство

16.3.1. Общие сведения

Для выполнения измерений используются два плоских контакта, по одному с каждой стороны волокна. Поверхности контактов должны быть параллельны друг другу, и сила, с которой контакты прижимаются к волокну, должна контролироваться во избежание деформации образца или контактов.

16.3.2. Устройство для проведения испытания

Схема испытательного устройства приведена на черт.3.     

Вид электронной микрометрической системы сверху

1 - неподвижный контакт; 2 - держатель образца; 3 - пружина; 4 - щуп;
5 - контакт на прецизионной платформе; 6 - образец; 7 - микрометрический
винт; 8 - электронный микрометр

Черт.3

16.3.2.1. Контакты

Имеются два контакта: один неподвижный, другой установлен на прецизионной платформе. Поверхности контактов параллельны друг другу и перпендикулярны к направлению движения платформы. Они изготавливаются из твердых, коррозионностойких материалов, например, из нержавеющей стали или плавленого кварца.

16.3.2.2. Прецизионная платформа

Прецизионная платформа удерживает подвижный контакт и щуп электронной микрометрической системы. Платформа передвигается с помощью микрометрического винта; платформа удерживается на винте с помощью пружин. Пружины позволяют сводить контакты вплотную.

16.3.2.3. Электронная микрометрическая система

Электронная микрометрическая система, такая как интерферометр двойного хода Михельсона может использоваться со щупом для точного измерения перемещения платформы, и, следовательно, подвижного контакта.

16.3.2.4. Держатели образца

Держатели удерживают образец между поверхностями контактов.

16.3.3. Проведение измерения

16.3.3.1. Принцип измерения

Диаметр образца измеряют с помощью контактов, которые прижимаются к противоположным сторонам образца. Сила, с которой контакты прижимаются к образцу и которая определяется натяжением пружины платформы и площадью соприкасания с контактами, регулируется таким образом, чтобы деформация образца или контактов была минимальной. Потребитель и изготовитель оговаривает между собой указанные значения для различных материалов.

Например, для волокна из плавленного кварца диаметром 125 мкм данное значение обычно составляет 0,2 Н для контактов с длиной касания с волокном 1 мм.