ГОСТ 24768-2000 Изделия фарфоровые. Метод определения белизны

     5 Проведение испытания

5.1 Спектральные коэффициенты отражения (суммарные или соответствующие диффузным составляющим отраженного света) от поверхности образцов глазурованного фарфора или изделий с прозрачной глазурью измеряют при длинах волн = 400 нм, = 540 нм  и = 700 нм; костяного фарфора и фарфора с глушеной глазурью - при длинах волн = 410 нм, = 540 нм и  = 700 нм.

5.2 Измерение спектральных коэффициентов отражения проводят:

- на спектрофотометрах при установке указанных длин волн;

- на шаровом фотометре типа ФО-1 при установке синего, зеленого и красного светофильтров соответственно.

5.3 При измерении суммарных спектральных коэффициентов отражения образцов глазурованного фарфора используют:

- на спектрофотометре типа СФ-18 набор мер спектральных коэффициентов отражения из стекла МС 20;

- на спектрофотометре типа "Spekol-11" с измерительной приставкой Rd/o и шаровом фотометре типа ФО-1 меры спектральных коэффициентов отражения из глазурованного фарфора, аттестованные по значениям .

При измерении на спектрофотометре типа "Spekol-11" с измерительной приставкой Ro/d спектральных коэффициентов отражения изделий, соответствующих диффузным составляющим отраженного света, используют меры спектральных коэффициентов отражения из глазурованного фарфора, аттестованные по значениям .

При измерении спектральных коэффициентов отражения образцов или изделий из фарфора с прозрачной глазурью применяют меры спектральных коэффициентов отражения из фарфора с прозрачной глазурью; образцов или изделий из костяного фарфора - меры спектральных коэффициентов отражения из костяного фарфора; образцов или изделий из фарфора с глушеной глазурью - меры спектральных коэффициентов отражения из фарфора с глушеной глазурью.

5.4 Для проведения испытания образец или изделие устанавливают таким образом, чтобы на испытуемых участках глазурованных поверхностей не было фирменного знака, участков с декором и дефектов (трещин, засорки, натека, матовости глазури, плешин, мушки, выгорки, прыща, зашлифованных следов после снятия засорки).

5.5 Суммарные спектральные коэффициенты отражения каждого образца фарфора на спектрофотометрах типа СФ-18, типа "Spekol-11" с приставкой Rd/o и шаровом фотометре типа ФО-1 измеряют три раза при каждой из трех заданных длин волн. При этом перед каждым измерением повторяют операции по установке образца в положение, при котором обеспечиваются минимальные для данного образца зазоры между краем отверстия в дне фотометрического шара прибора и поверхностью испытуемого образца. Образцы устанавливают выпуклой стороной к фотометрическому шару прибора.

Спектральные коэффициенты отражения каждого изделия, соответствующие диффузным составляющим отраженного света, на спектрофотометре типа "Spekol-11" с измерительной приставкой Ro/d измеряют три раза при каждой длине волны. Перед каждым измерением повторяют операции по жесткой установке изделия относительно острия фотометрического конуса измерительной приставки Ro/d.

5.6 При проведении испытаний не допускается загрязнение мер спектральных коэффициентов отражения и испытуемых образцов или изделий.