ГОСТ 22267-76 (СТ СЭВ 3719-82 - СТ СЭВ 3722-82, СТ СЭВ 4141-83 - СТ СЭВ 4145-83, СТ СЭВ 4148-83, СТ СЭВ 4580-84 - СТ СЭВ 4585-84, СТ СЭВ 4992-85, СТ СЭВ 4993-85, СТ СЭВ 4995-85, СТ СЭВ 4996-85, СТ СЭВ 5545-86) Станки металлорежущие. Схемы и способы измерений геометрических параметров (с Изменениями N 1-6)

     

ПРИЛОЖЕНИЕ 6
Справочное

     
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОТКЛОНЕНИЙ
ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ ПОВЕРХНОСТИ

Отклонение от прямолинейности поверхности определяют по графическому изображению профиля проверяемой поверхности в заданном сечении относительно прилегающей прямой.

По определению прилегающей прямой по ГОСТ 24642-81 возможны два случая касания прилегающей прямой с профилем проверяемой поверхности в заданном сечении:

прилегающая прямая касается профиля проверяемой поверхности в заданном сечении в двух наивысших точках (черт.1); в этом случае наивысшие точки могут быть концевыми точками измеряемого участка (вогнутая форма реального профиля - черт.2);

прилегающая прямая касается профиля проверяемой поверхности в заданном сечении в одной наивысшей точке и параллельна прямой, соединяющей две низкие точки (выпускаемая форма реального профиля - черт.3); в этом случае наинизшие точки могут быть концевыми точками измеряемого участка (черт.4).

Черт.1

Черт.2

Черт.3

Черт.4

Если по характеру профиля проверяемой поверхности в заданном сечении возможно определить, какому случаю соответствует положение прилегающей прямой, то отклонение от прямолинейности в плоскости определяют для каждого случая. Определению прилегающей прямой будет соответствовать то ее положение, при котором отклонение от прямолинейности поверхности меньше.

Допускается определять отклонение от прямолинейности поверхности по отношению к прямой, проходящей через крайние точки профиля проверяемой поверхности в заданном сечении. При этом крайние точки профиля должны располагаться на одинаковых расстояниях от меры прямолинейности (поверочной линейки, оптической линейки и т.п.).

Отклонение от прямолинейности в заданном сечении проверяемой поверхности в этом случае определяется без построения графика как наибольшая алгебраическая разность показаний измерительного прибора на длине измерения.