ГОСТ 29232-91 (ИСО 4311-79) Анионные и неионногенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод определения поверхностного натяжения с помощью пластины, скобы или кольца

0. ВВЕДЕНИЕ

Кривые концентрационных зависимостей изменения физико-химических свойств водных растворов поверхностно-активных веществ (ПАВ) являются специфическими. В определенной области концентраций, обычно очень узкой, эти кривые имеют экстремумы, которые можно объяснить образованием в объеме раствора агрегатов молекул. Концентрацию, при которой появляются эти экстремумы, называют "критической концентрацией мицеллообразования" (ККМ).

При равной длине гидрофобной части молекулы ПАВ критическая концентрация мицеллообразования обычно является выше для ионных поверхностно-активных веществ, чем для неионногенных. На критическую концентрацию мицеллообразования, независимо от структуры поверхностно-активного вещества, влияют температура, а также природа и количество примесей как неорганических, так и органических. Поэтому заранее должны быть оговорены условия, которые могут влиять на конечный результат, в том числе должна быть известна чистота продукта и, насколько это возможно, состав и количество примесей, наличие которых может значительно изменить поверхностное натяжение (полезно знать, являются ли примеси органической или неорганической природы, и, если возможно, их концентрации).

Точные значения критической концентрации мицеллообразования не могут быть получены из непосредственных измерений, но предельные границы ККМ могут быть определены из кривых концентрационной зависимости поверхностного натяжения растворов ПАВ. Полученные таким образом значения ККМ вполне удовлетворяют практиков.