5.1 Общие требования
Настоящая методика измерений разработана для обеспечения наибольшей согласованности результатов измерений коэффициента отражения, ширины штрихов и пробелов символов штрихового кода на различных подложках с учетом режимов, характерных для средств сканирования штриховых кодов.
Измерения следует проводить при определенной длине волны и с апертурой, диаметр которой задан в нормативном документе (спецификации) по применению или определен в соответствии с 5.2.1 и 5.2.2.
Символ штрихового кода измеряют по возможности в его окончательной конфигурации, т.е. в конфигурации, в которой предполагается производить сканирование. Если это невозможно, следует обратиться к приложению D, определяющему метод измерения коэффициента отражения для подложек с пониженной непрозрачностью.
Метод выборочного контроля должен базироваться на статистически допустимом объеме выборки в пределах контролируемой партии или серии. До проведения контроля качества должен быть установлен минимальный допустимый класс. При отсутствии плана выборочного контроля, определенного в формальных процедурах обеспечения качества или в двустороннем соглашении, приемлемый план может базироваться на положениях ИСО 2859-1* или ИСО 3951**.
______________________
* На территории Российской Федерации рекомендуется применять ГОСТ Р 50779.71-99.
** На территории Российской Федерации рекомендуется применять ГОСТ Р 50779.74-99.
5.2 Эталонные измерения коэффициента отражения
Оборудование для оценки качества символов штрихового кода в соответствии с настоящим стандартом должно включать средства измерения и анализа вариаций коэффициента диффузного отражения символа штрихового кода на его подложке вдоль ряда путей сканирования, которые полностью пересекают символ по всей длине, включая обе свободные зоны. Основой этой методики является измерение коэффициента диффузного отражения символа.
Все измерения символа штрихового кода проводят в пределах полосы проверки в соответствии с 5.2.4.
Измеренные значения коэффициентов отражения представляют в процентах по отношению к коэффициенту отражения эталонного образца (выполняемого в соответствии с требованиями ИСО 7724-2 на основе сульфата бария или окиси магния), который принимается равным 100%, или путем калибровки и привязки к образцам (признанным национальными метрологическими лабораториями), освещаемым под углом 45°, диффузно-рассеянное излучение от которых собирается в направлении, перпендикулярном поверхности.
5.2.1 Рабочая(ие) длина(ы) волны
Для обеспечения соответствия условиям сканирования используемая при измерениях длина волны, соответствующая спектральному максимуму интенсивности излучения, должна быть установлена в нормативном документе (спецификации) по применению. Если она не установлена, измерения проводят с использованием длины волны, наиболее близкой к той, которую предполагается использовать в процессе сканирования. Руководство по выбору длины волны приведено в приложении F.
5.2.2 Измерительная апертура
Для обеспечения соответствия условиям сканирования в нормативном документе (спецификации) по применению должен быть установлен номинальный диаметр измерительной апертуры, используемой при измерениях. Если он не установлен, следует руководствоваться таблицей 1. При использовании нескольких размеров все измерения проводят с апертурой, соответствующей наименьшему из установленных размеров .
Таблица 1 - Рекомендации по выбору диаметра измерительной апертуры
Размер , мм | Диаметр апертуры, мм | Ссылочный номер |
0,1000,180 | 0,075 | 03 |
0,1800,330 | 0,125 | 05 |
0,3300,635 | 0,250 | 10 |
0,635 | 0,500 | 20 |
Примечание - Ссылочный номер апертуры приблизительно равен диаметру измерительной апертуры, выраженному в тысячных долях дюйма; это значение используют для сопоставления с [2]. |
Если размеры не заданы, следует использовать размеры .
Диаметр измерительной эффективной апертуры может несколько отличаться от номинального размера вследствие допусков на изготовление и свойств оптической системы. Следует иметь в виду, что измеренная ширина некоторых узких элементов может быть меньше диаметра измерительной апертуры.
5.2.3 Оптическая схема
Общая оптическая схема для измерений коэффициента отражения должна включать в себя:
a) источник для равномерного освещения образца, угол падения оптического излучения от которого составляет 45° от нормали к поверхности образца, при этом пучок излучения находится в плоскости, перпендикулярной поверхности и параллельной штрихам;
b) устройство сбора отраженного излучения, ось которого перпендикулярна поверхности.
Оптическое излучение, отраженное от области измерения в форме круга, собирается в пределах конуса с углом при вершине 15° и осью, перпендикулярной поверхности, и проходит через круглую измерительную апертуру, диаметр которой при линейном увеличении 1:1 равен диаметру области измерения.