ГОСТ 19656.0-74*
(СТ СЭВ 1622-79,
СТ СЭВ 3408-81)

Группа Э29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ

Методы измерения электрических параметров. Общие положения

Semiconductor microwave diodes.
Methods of measuring electrical parameters. General

     

Дата введения 1975-07-01

Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 29 марта 1974 г. N 753 срок введения установлен с 01.07.75

Проверен в 1987 г. Постановлением Госстандарта СССР от 20.04.87 N 1330 срок действия продлен до 01.07.92**

________________

** Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 02.09.91 N 1413 (ИУС N 12, 1991 год). - Примечание изготовителя базы данных.

* ПЕРЕИЗДАНИЕ (апрель 1988 г.) с Изменениями N 1, N 2, N 3, утвержденными в июне 1976 г., ноябре 1980 г., январе 1983 г.; Пост. N 387 от 25.01.83 (ИУС N 7-1976 г., ИУС N 1-1981 г., ИУС N 5-1983 г.)

1. Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает общие положения при измерениях электрических параметров на сверхвысоких частотах.

Настоящий стандарт соответствует СТ СЭВ 1622-79 в части общих требований к методам измерения электрических параметров диодов СВЧ и СТ СЭВ 3408-81 (см. справочное приложение).

(Измененная редакция, Изм. N 2, N 3).

2. Измеряемый диод должен включаться в измерительные установки при помощи измерительной диодной камеры, требования к которой и методика проверки должны устанавливаться в стандартах или технических условиях на диоды СВЧ конкретных типов.

(Измененная редакция, Изм. N 3).