ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности (с Изменениями N 1, 2)

1. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ ДИОДОВ, ЗНАЧЕНИЕ КОТОРОЙ 2 нГн И БОЛЕЕ

1.1. Принцип, условия и режим измерений

1.1.1. Принцип измерения индуктивности диодов основан на измерении резонансной частоты колебательного контура куметра при подключении к нему измеряемого диода.

1.1.2. Постоянный прямой ток диода, при котором проводят измерение, должен быть таким, чтобы добротность контура с диодом была не менее 40.

1.1.3. Частота измерения, ГГц, должна удовлетворять условию

,

где - значение индуктивности, указанное в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Гн.

1.2. Аппаратура

1.2.1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой указана на черт.1.

- блок смещения; - миллиамперметр; - резистор подачи смещения; - катушка индуктивности, подключаемая к куметру; - куметр; - переменный конденсатор куметра; - резистор внутри куметра, на котором создается ЭДС высокой частоты; - измеряемый диод; - замыкатель

Черт.1

1.2.2. Индуктивность контура должны выбирать из условия

.

1.2.3. Индуктивность замыкателя должны выбирать из условия

.

Замыкатель рекомендуется изготовлять в виде отрезка плоской широкой шины из металла, хорошо проводящего ток на высокой частоте.

В необходимых случаях требования к конструкции замыкателя должны быть указаны в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

1.2.4. Сопротивление резистора должно удовлетворять условию

.

1.3. Подготовка и проведение измерений

1.3.1. При измерении индуктивности диодов должна быть определена общая емкость колебательного контура с учетом распределенной емкости катушки индуктивности . Общая емкость контура определяется в положении переменного конденсатора , соответствующем настройке контура в резонанс на рабочей частоте при замыкании контактов А и Б измерительной схемы замыкателем.

Измерение общей емкости контура должно проводиться в соответствии с документацией на куметр, который применяют для измерения индуктивности диода.

1.3.2. Измеряемый диод включают в контур последовательно с катушкой индуктивности.