ГОСТ 22372-77 (СТ СЭВ 3164-81 и СТ СЭВ 3166-81) Материалы диэлектрические. Метод определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5·10_(6) Гц (с Изменением N 1)

2. АППАРАТУРА

2.1. Измерение емкости и тангенса угла диэлектрических потерь конденсатора должно проводиться на установках и приборах, удовлетворяющих следующим требованиям:

а) измерительная установка, состоящая из источника напряжения, измерительного устройства и индикатора, должна обеспечивать проведение измерений в диапазоне частот от 100 до 5·10 Гц или на фиксированных частотах в этом диапазоне;

б) напряжение измерительной цепи должно иметь синусоидальную форму с постоянной амплитудой, а ее значение должно быть указано в стандартах или другой нормативно-технической документации на материал и в любом случае не должна превышать напряжение ионизации. Колебания напряжения не должны превышать ±3%, а стабильность частоты напряжения должна быть такой, чтобы ее уход за время измерения был не более 1% изменяемой частоты. Основная погрешность установки частоты не должна превышать ±1%;

в) индикатор, используемый в качестве указателя равновесия моста, должен быть достаточно селективным, чтобы исключить влияние искажения формы кривой питающего напряжения. Ослабление второй гармоники по отношению к основной должно быть не менее 35 дБ;

г) основная погрешность прибора (установки), применяемого для измерения емкости и тангенса угла диэлектрических потерь конденсатора в диапазоне емкостей от 20 до 1000 пФ, не должна превышать:

±(0,01+1) пФ при измерении ;

±(0,05+0,0002) при измерении .

(Измененная редакция, Изм. N 1)

.

2.2. Установка для температурных измерений, в которую, кроме приборов для определения , и измерительной ячейки, входят измерительная камера с системами нагрева, охлаждения, терморегулирования и приборов для измерения температуры, должна удовлетворять следующим требованиям:

а) объем измерительной камеры должен быть достаточным для размещения измерительной ячейки и обеспечивать возможность смены образца;

б) металлические элементы камеры должны быть стойкими к повышенной температуре и окислению, а также достаточно прочными. Наиболее приемлемыми для этой цели являются нержавеющая сталь и латунь;

в) конструкция камеры не должна ухудшать электрические свойства измерительной ячейки, собственная емкость измерительной ячейки должна быть минимальной и не меняться в процессе измерения;

г) измерительная камера должна обеспечивать равномерное распределение температуры по всему объему. Перепад температур в месте расположения образца не должен превышать 2 °С. При необходимости конструкция камеры должна предусматривать принудительное перемешивание воздуха;

д) измерительная ячейка и образец не должны подвергаться прямому облучению от нагревательных элементов;

е) система терморегулирования должна обеспечивать равномерное изменение температуры в камере со скоростью от 1 до 15 °С в минуту или поддержание температуры на постоянном уровне. Колебания температуры при ступенчатом нагреве в месте расположения образца во время измерения должны быть не более ±1 °С;

ж) измерение температуры должно проводиться термопарами или другими устройствами, обеспечивающими погрешность измерения не более ±1 °С. Термопары должны располагаться в максимальной близости от образца и не должны влиять на результаты измерений. В камере, рассчитанной на одновременное испытание нескольких образцов, термопары должны располагаться возле каждого образца;

з) при низких температурах необходимо предусматривать меры, исключающие конденсацию влаги на поверхности образца, электродах и изоляции (например, обдув парами жидкого азота).

(Измененная редакция, Изм. N 1).

2.3. Перечень измерительной аппаратуры приведен в справочном приложении.