ГОСТ 15133-77
Группа Э00
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
Термины и определения
Semiconductor devices. Terms and definitions
МКС 01.040.31
31.080
ОКСТУ 6201
Дата введения 1978-07-01
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 27.04.77 N 1061
2. Стандарт соответствует СТ СЭВ 2767-85, за исключением терминов, указанных в приложении
3. ВЗАМЕН ГОСТ 15133-69
4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
Обозначение НТД, на который дана ссылка | Номер пункта, подпункта |
Табл.1, п.п.127а, 127б, 127в | |
Табл.1, п.120а |
5. ИЗДАНИЕ с Изменениями N 1, 2, 3, 4, утвержденными в июне 1980 г., июне 1982 г., октябре 1986 г., июне 1988 г. (ИУС 9-80, 10-82, 1-87, 10-88)
Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий полупроводниковых приборов.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу деятельности по стандартизации или использующих результаты этой деятельности.
Степень соответствия настоящего стандарта СТ СЭВ 2767-85 приведена в приложении.
1. Стандартизованные термины с определениями приведены в табл.1.
2. Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Применение терминов - синонимов стандартизованного термина не допускается. Недопустимые к применению термины-синонимы приведены в табл.1 в качестве справочных и обозначены пометой "Ндп".
2.1. Для отдельных стандартизованных терминов в табл.1 приведены в качестве справочных краткие формы, которые разрешается применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.
2.2. Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них производные признаки, раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, входящие в объем определяемого понятия. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в настоящем стандарте.
2.3. В табл.1 в качестве справочных приведены иноязычные эквиваленты для ряда стандартизованных терминов на немецком (D), английском (Е) и французском (F) языках.
3. Алфавитные указатели содержащихся в стандарте терминов на русском языке и их иноязычных эквивалентов приведены в табл.2-5.
4. Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткая форма - светлым, а недопустимые синонимы - курсивом.
(Измененная редакция, Изм. N 4).
Таблица 1
Термин | Определение |
ФИЗИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ | |
1. Электрический переход Переход D. Elektrischer (Sperrschicht) E. Junction F. Jonction | Переходный слой в полупроводнике материале между двумя областями с различными типами электропроводности или разными значениями удельной электрической проводимости. Примечание. Одна из областей может быть металлом |
2. Электронно-дырочный переход D. E. P-N junction F. Jonction P-N | Электрический переход между двумя областями полупроводника, одна из которых имеет электропроводность -типа, а другая -типа |
3. Электронно-электронный переход D. E. N-N junction F. Jonction N-N | Электрический переход между двумя областями полупроводника -типа, обладающими различными значениями удельной электрической проводимости |
4. Дырочно-дырочный переход D. E. P-P junction F. Jonction P-P | Электрический переход между двумя областями полупроводника -типа, обладающими различными значениями удельной электрической проводимости. Примечание. В терминах 3 и 4 "+" условно обозначает область с более высокой удельной электрической проводимостью |
5. Резкий переход D. Steiler E. Abrupt junction F. Jonction abrupte | Электрический переход, в котором толщина области изменения концентрации примеси значительно меньше толщины области пространственного заряда. Примечание. Под толщиной области понимают ее размер в направлении градиента концентрации примеси |
6. Плавный переход D. Stetiger E. Graded junction F. Jonction graduelle | Электрический переход, в котором толщина области изменения концентрации примеси сравнима с толщиной области пространственного заряда |
7. Плоскостной переход D. E. Surface junction F. Jonction de par surface | Электрический переход, у которого линейные размеры, определяющие его площадь, значительно больше толщины |
8. Точечный переход D. E. Point-contact junction F. Jonction pointe | Электрический переход, все размеры которого меньше характеристической длины, определяющей физические процессы в переходе и в окружающих его областях. Примечание. Характеристической длиной может быть толщина области пространственного заряда, диффузионная длина и т.д. |
9. Диффузионный переход D. Diffundierter E. Diffused junction F. Jonction diffusion | Электрический переход, полученный в результате диффузии атомов примеси в полупроводнике |
10. Планарный переход D. E. Planar junction F. Jonction planar | Диффузионный переход, образованный в результате диффузии примеси сквозь отверстие в защитном слое, нанесенном на поверхность полупроводника |
11. Конверсионный переход D. E. Conversion junction F. Jonction de conversion | Электрический переход, образованный в результате конверсии полупроводника, вызванной обратной диффузией примеси в соседнюю область, или активацией атомов примеси |
12. Сплавной переход Ндп. Вплавной переход D. Legierter E. Alloyed junction F. Jonction | Электрический переход, образованный в результате вплавления в полупроводник и последующей рекристаллизации металла или сплава, содержащего донорные и (или) акцепторные примеси |
13. Микросплавной переход Ндп. Микровплавной переход D. Mikrolegierter E. Micro-alloy junction F. Jonction | Сплавной переход, образованный в результате вплавления на малую глубину слоя металла или сплава, предварительно нанесенного на поверхность полупроводника |
14. Выращенный переход Ндп. Тянутый переход D. Gezogener Е. Grown junction F. Jonction de croissance | Электрический переход, образованный при выращивании полупроводника из расплава |
15. Эпитаксиальный переход D. E. Epitaxial junction F. Jonction | Электрический переход, образованный эпитаксиальным наращиванием. Примечание. Эпитаксиальное наращивание - создание на монокристаллической подложке слоя полупроводника, сохраняющего кристаллическую структуру подложки |
16. Гетерогенный переход Гетеропереход D. E. Heterogenous junction F. Jonction | Электрический переход, образованный в результате контакта полупроводников с различной шириной запрещенной зоны |
17. Гомогенный переход Гомопереход D. Homogener E. Homogenous junction F. Jonction | Электрический переход, образованный в результате контакта полупроводников с одинаковой шириной запрещенной зоны |
18. Переход Шоттки D. E. Schottky junction F. Jonction Schottky | Электрический переход, образованный в результате контакта между металлом и полупроводником |
19. Выпрямляющий переход D. E. Rectifying junction F. Jonction redresseuse | Электрический переход, электрическое сопротивление которого при одном направлении тока больше, чем при другом |
20. Омический переход Ндп. Линейный контакт D. Ohmischer Е. Ohmic junction F. Jonction ohmique | Электрический переход, электрическое сопротивление которого не зависит от направления тока в заданном диапазоне значений токов |
21. Эмиттерный переход D. E. Emitter junction F. Jonction | Электрический переход между эмиттерной (27)* и базовой (26) областями полупроводникового прибора (62) |
________________ * Числа в скобках обозначают порядковый номер терминов, помещенных в настоящем стандарте. | |
22. Коллекторный переход D. E. Collector junction F. Jonction collecteur | Электрический переход между базовой (26) и коллекторной (28) областями полупроводникового прибора (62) |
23. Дырочная область D. Defektelektronengebiet E. P-region F. | Область в полупроводнике с преобладающей дырочной электропроводностью |
24. Электронная область D. Elektronengebiet E. N-region F. | Область в полупроводнике с преобладающей электронной электропроводностью |
25. Область собственной электропроводности Ндп. Собственная область D. Eigenleitungsgebiet Е. Intrinsic region F. | Область в полупроводнике, обладающая свойствами собственного полупроводника |
26. Базовая область База D. Basisgebiet Е. Base region F. de base | Область полупроводникового прибора (62), в которую инжектируются неосновные для этой области носители заряда |
27. Эмиттерная область Эмиттер D. Emittergebiet E. Emitter region F. d'emitteur | Область полупроводникового прибора (62), назначением которой является инжекция носителей заряда в базовую область |
28. Коллекторная область Коллектор D. Kollektorgebiet E. Collector region F. de collecteur | Область полупроводникового прибора (62), назначением которой является экстракция носителей из базовой области |
29. Активная часть базовой области D. Aktiver Teil des Basisgebietes eines bipolaren Transistors E. Active part of base region F. active de base | Часть базовой области биполярного транзистора, в которой накопление или рассасывание неосновных носителей заряда происходит за время перемещения их от эмиттерного перехода к коллекторному переходу |
30. Пассивная часть базовой области D. Passiver Teil des Basisgebietes eines bipolaren Transistors E. Passive part of base region F. passive de base | Часть базовой области биполярного транзистора, в которой для накопления или рассасывания неосновных носителей заряда необходимо время большее, чем время их перемещения от эмиттерного перехода к коллекторному переходу |
31. Проводящий канал D. Kanal E. Channel F. Canal | Область полевого транзистора, в которой регулируется поток носителей заряда. Примечания: 1. Данное понятие не следует смешивать с "каналом утечки", возникающим в месте выхода перехода на поверхность кристалла. 2. Проводящий канал может быть или -типа в зависимости от типа электропроводности полупроводника |
32. Исток D. Source (Quelle) E. Source F. Source | Электрод полевого транзистора (100), через который в проводящий канал втекают носители заряда |
33. Сток D. Drain (Senke) S. Drain F. Drain | Электрод полевого транзистора (100), через который из проводящего канала вытекают носители заряда |
34. Затвор D. Gate (Tor) E. Gate F. Grille | Электрод полевого транзистора (100), на который подается электрический сигнал |
35. Структура полупроводникового прибора Структура D. Struktur eines Halbleiterbauelementes E. Structure F. Structure | Последовательность граничащих друг с другом областей полупроводника, различных по типу электропроводности или по значению удельной проводимости, обеспечивающая выполнение полупроводниковым прибором (62) его функций. Примечания : 1. Примеры структур полупроводниковых приборов: ; ; ; и др. 2. В качестве областей могут быть использованы металл и диэлектрик |
36. Структура металл-диэлектрик-полупроводник Структура МДП D. Metall-Dielektrikum-Halbleiter-Struktur (MIS-Struktur) F. MIS-structure F. Structure-MIS | Структура, состоящая из последовательного сочетания металла, диэлектрика и полупроводника |
37. Структура металл-окисел-полупроводник Структура МОП D. Metall-Oxid-Halbleiter-Struktur (HOS-Struktur) Е. MOS-structure F. Structure-MOS | Структура, состоящая из последовательного сочетания металла, окисла на поверхности полупроводника и полупроводника |
38. Мезаструктура D. Mesastruktur E. Mesa-structure F. | Структура, имеющая форму выступа, образованного удалением периферийных участков кристалла полупроводника либо наращиванием |
39. Обедненный слой D. Verarmungsschicht E. Depletion layer F. Couche de | Слой полупроводника, в котором концентрация основных носителей заряда меньше разности концентрации ионизованных доноров и акцепторов |
40. Запирающий слой Ндп. Запорный слой D. Sperrschicht Е. Barrier region (layer) F. | Обедненный слой между двумя областями полупроводника с различными типами электропроводности или между полупроводником и металлом |
41. Обогащенный слой D. Anreicherungsschicht E. Enriched layer F. Couche enrichie | Слой полупроводника, в котором концентрация основных носителей заряда больше разности концентрации ионизованных доноров и акцепторов |
42. Инверсный слой D. Inversionsschicht E. Inversion layer F. Couche d'inversion | Слой у поверхности полупроводника, в котором тип электропроводности отличается от типа электропроводности в объеме полупроводника в связи с наличием электрического поля поверхностных состояний, внешнего электрического поля у поверхности или поля контактов разности потенциалов |
ЯВЛЕНИЯ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРАХ | |
43. Прямое направление для перехода D. Durchlassrichtung des E. Forward direction (of a P-N junction) F. Sens direct (d'une jonction P-N) | Направление постоянного тока, в котором переход имеет наименьшее сопротивление |
44. Обратное направление для перехода D. Sperrichtung des E. Reverse direction (of a P-N junction) F. Sens inverse (d'une jounction P-N) | Направление постоянного тока, в котором переход имеет наибольшее сопротивление |
45. Пробой перехода D. Durchbruch des E. Breakdown of a P-N junction F. Claquage (d'une jonction P-N) | Явление резкого увеличения дифференциальной проводимости перехода при достижении обратным напряжением (током) критического для данного прибора значения. Примечание. Необратимые изменения в переходе не являются необходимым следствием пробоя |
46. Электрический пробой перехода D. Elektrischer Durchbruch des E. P-N junction electrical breakdown F. Claquage (d'une jonction P-N) | Пробой перехода, обусловленный лавинным размножением носителей заряда или туннельным эффектом под действием приложенного напряжения |
47. Лавинный пробой перехода D. Lawinendurchbruch des E. (P-N junction) avalanche breakdown F. Claquage par avalanche (d'une jonction P-N) | Электрический пробой перехода, вызванный лавинным размножением носителей заряда под действием сильного электрического поля |
48. Туннельный пробой перехода D.Tunneldurchbruch des E. Zenner (tunnel) breakdown F. Claquage par effet Zenner (tunnel) | Электрический пробой перехода, вызванный туннельным эффектом |
49. Тепловой пробой перехода D. Thermischer Durchbruch des E. (P-N junction) thermal breakdown F. Claquage par effet thermique (d'une jonction P-N) | Пробой перехода, вызванный ростом числа носителей заряда в результате нарушения равновесия между выделяемым в переходе и отводимым от него теплом |
50. Модуляция толщины базы D. Modulation der Basisbreite E. Base thickness modulation F. Modulation de base | Изменение толщины базовой области, вызванное изменением толщины запирающего слоя при изменении значения обратного напряжения, приложенного к коллекторному переходу |
51. Эффект смыкания Ндп. Прокол базы D. Durchgreifeffekt E. Punch-through F. | Смыкание обедненного слоя коллекторного перехода в результате его расширения на всю толщину базовой области с обедненным слоем эмиттерного перехода |
52. Накопление неравновесных носителей заряда в базе Накопление заряда в базе D. Speicherung von in der Basis E. Minority carrier storage (in the base) F. Accumulation de porteurs dans la base | Увеличение концентрации и величины зарядов, образованные неравновесными носителями заряда в базе в результате увеличения инжекции или в результате генерации носителей заряда |
53. Рассасывание неравновесных носителей заряда в базе Рассасывание заряда в базе D. Abbau von in der Basis E. Excess carrier resorption (in the base) F. de porteurs dans la base | Уменьшение концентрации и величины зарядов, образованные неравновесными носителями заряда в базе в результате уменьшения инжекции или в результате рекомбинации |
54. Прямое восстановление полупроводникового диода D. Einschwingen des Durchlasswiderstandes einer Halbleiterdiode E. Forward recovery F. Recouvrement direct | Переходный процесс, в течение которого прямое сопротивление перехода полупроводникового диода устанавливается до постоянного значения после быстрого включения перехода в прямом направлении. Примечание. Под словом "быстрый" в определениях 54 и 55 понимается изменение тока или напряжения за время, сравнимое или меньшее постоянной времени переходного процесса установления или восстановления сопротивления |
55. Обратное восстановление полупроводникового диода D. Wiederherstellung des Sperrwiderstandes einer Halbleiterdiode E. Reverse recovery F. Recouvrement inverse | Переходный процесс, в течение которого обратное сопротивление перехода полупроводникового диода восстанавливается до постоянного значения после быстрого переключения перехода с прямого направления на обратное |
56. Закрытое состояние тиристора D. Blockierzustand eines Thyristors E. Off-state of a thyristor F. Etat de thyristor | Состояние тиристора (105), соответствующее участку прямой ветви вольтамперной характеристики между нулевой точкой и точкой переключения |
57. Открытое состояние тиристора D. Durchlasszustand eines Thyristors E. On-state of a thyristor F. Etat passant de thyristor | Состояние тиристора (105), соответствующее низковольтному и низкоомному участку прямой ветви вольт-амперной характеристики |
58. Непроводящее состояние тиристора в обратном направлении D. Sperrzustand eines Thyristors E. Reverse blocking state of a thyristor F. Etat dans le sens inverse de thyristor | Состояние тиристора (105), соответствующие участку вольт-амперной характеристики при обратных токах, по значению меньших тока при обратном напряжении пробоя |
59. Переключение тиристора D. Umschalten eines Thyristors E. Switching of a thyristor F. Commutation de thyristor | Переход тиристора (105) из закрытого состояния в открытое при отсутствии тока управления на управляющем выводе |
60. Включение тиристора D. eines Thyristots E. Gate triggering of a thyristor F. Amorcage de thyristor | Переход тиристора (105) из закрытого состояния в открытое при подаче тока управления |
61. Выключение тиристора D. Ausschalten eines Thyristors E. Gate turning-off of a thyristor F. de thyristor | Переход тиристора (105) из открытого состояния в закрытое при приложении обратного напряжения, уменьшении прямого тока или при подаче тока управления |
ВИДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ | |
62. Полупроводниковый прибор (ПП) D. Halbleiterbauelement E. Semiconductor device F. Dispositif semiconducteurs | Прибор, действие которого основано на использовании свойств полупроводника |
63. Силовой полупроводниковый прибор (СПП) D. Halbleiterleistungsbauelement E. Semiconductor power device F. Diode semiconducteurs pour forte puissance | Полупроводниковый прибор, предназначенный для применения в силовых цепях электротехнических устройств |
64. Полупроводниковый блок E. Semiconductor assembly F. Assemblage semiconducteurs | Совокупность полупроводниковых приборов, соединенных по определенной электрической схеме и собранных в единую конструкцию, имеющую более двух выводов |
65. Набор полупроводниковых приборов E. Semiconductor assembly set | Совокупность полупроводниковых приборов, собранных в единую конструкцию, не соединенных электрически или соединенных по одноименным выводам |
66. Полупроводниковый диод Диод Ндп. Полупроводниковый вентиль D. Halbleiterdiode E. Semiconductor diode F. Diode semiconducteurs | Полупроводниковый прибор с двумя выводами и несимметричной вольтамперной характеристикой. Примечание. Если не указано особо, этим термином обозначают приборы с вольт-амперной характеристикой, типичной для единичного перехода |
67. Точечный диод Ндп. Точечно-контактный диод D. Halbleiterspitzendiode E. Point-contact diode F. Diode pointe | Полупроводниковый диод с точечным переходом |
68. Плоскостной диод D. E. Junction diode F. Diode jonction | Полупроводниковый диод с плоскостным переходом |
69. Выпрямительный полупроводниковый диод Выпрямительный диод D. Halbleitergleichrichterdiode E. Semiconductor rectifier diode F. Diode de redressement | Полупроводниковый диод, предназначенный для преобразования переменного тока, включая монтажные и охлаждающие устройства, если он образует с ними одно целое |
69а. Лавинный выпрямительный диод Е. Avalanche rectifier diode | Выпрямительный полупроводниковый диод с заданными характеристиками минимального напряжения пробоя, предназначенный для рассеивания в течение ограниченной длительности импульса мощности в области пробоя вольт-амперной характеристики |
69б. Выпрямительный полупроводниковый диод с контролируемым лавинным пробоем Е. Controlled-avalanche rectifier diode | Выпрямительный полупроводниковый диод с заданными характеристиками максимального и минимального напряжения пробоя, предназначенный для работы в установившемся режиме в области пробоя обратной ветви вольт-амперной характеристики |
70. Выпрямительный полупроводниковый столб Выпрямительный столб E. Semiconductor rectifier stack F. Bloc de redressement (a semiconducteurs) | Совокупность выпрямительных полупроводниковых диодов, соединенных последовательно и собранных в единую конструкцию, имеющую два вывода |
71. Выпрямительный полупроводниковый блок Выпрямительный блок E. Semiconductor rectifier assembly F. Assemblage de redressement ( semiconducteurs) | Полупроводниковый блок, собранный из выпрямительных полупроводниковых диодов |
72. Импульсный полупроводниковый диод Импульсный диод D. Halbleiterimpulsdiode E. Signal diode F. Diode d'impulsion | Полупроводниковый диод, имеющий малую длительность переходных процессов в импульсных режимах работы |
73. Диод с накоплением заряда Е. Snap-off (step-recovery) diode | Импульсный полупроводниковый диод, накапливающий заряд при протекании прямого тока и обладающий эффектом резкого обратного восстановления при подаче обратного напряжения, который используется для формирования импульсов с малым временем нарастания |
74. Туннельный диод D. Halbleitertunneldiode E. Tunnel diode F. Diode tunnel | Полупроводниковый диод на основе вырожденного полупроводника, в котором туннельный эффект приводит к появлению на вольт-амперной характеристике при прямом направлении участка отрицательной дифференциальной проводимости |
75. Обращенный диод D. Halbleiterunitunneldiode E. Unitunnel (backward) diode F. Diode | Полупроводниковый диод на основе полупроводника с критической концентрацией примеси, в котором проводимость при обратном напряжении вследствие туннельного эффекта значительно больше, чем при прямом напряжении, а пиковый ток и ток впадины приблизительно равны |
76. Сверхвысокочастотный полупроводниковый диод СВЧ-диод D. UHF-Halbleiterdiode E. Microwave diode F. Diode en | Полупроводниковый диод, предназначенный для преобразования и обработки сверхвысокочастотного сигнала |
77. Лавинно-пролетный диод D. Halbleiterlawinenlaufzeitdiode E. Impact avalanche-(and-) transit time diode F. Diode avalanche temps de transit | Полупроводниковый диод, работающий в режиме лавинного размножения носителей заряда при обратном смещении электрического перехода и предназначенный для генерации сверхвысокочастотных колебаний |
78. Инжекционно-пролетный диод D. Halbleiterinjektionslaufzeitdiode E. Injection- (and-) transit time diode F. Diode injection temps de transit | Полупроводниковый диод, работающий в режиме инжекции носителей заряда в область запорного слоя и предназначенный для генерации сверхвысокочастотных колебаний |
79. Переключательный диод D. Halbleiterschaltdiode E. Switching diode F. Diode de commutation | Полупроводниковый диод, имеющий на частоте сигнала низкое сопротивление при прямом смещении и высокое сопротивление - при обратном, предназначенный для управления уровнем мощности сигнала |
80. Смесительный диод D. Halbleitermischdiode E. Semiconductor mixer diode F. Diode | Полупроводниковый диод, предназначенный для преобразования высокочастотных сигналов в сигнал промежуточной частоты |
81. Диод Ганна D. Gunn-Element E. Gunn diode F. Diode Gunn | Полупроводниковый диод, действие которого основано на появлении отрицательного объемного сопротивления под воздействием сильного электрического поля, предназначенный для генерации и усиления сверхвысокочастотных колебаний |
82. Коммутационный полупроводниковый диод Коммутационный диод D. Halbleiter-HF-Schaltdiode | Полупроводниковый диод, предназначенный для коммутации высокочастотных цепей |
83. Регулируемый резистивный диод D. PIN-Diode E. PIN diode F. Diode PIN | Полупроводниковый диод, применяемый для регулирования сопротивления в тракте передачи сигнала, активное сопротивление которого для высокочастотного сигнала определяется постоянным током прямого смещения |
84. Детекторный полупроводниковый диод Детекторный диод D. Halbleiterdemodulatordiode E. Detector diode F. Diode semiconducteurs | Полупроводниковый диод, предназначенный для детектирования сигнала |
85. Ограничительный полупроводниковый род Ограничительный диод D. Halbleiterbegrenzerdiode E. Microwave limiting diode F. Diode de limitation de | Полупроводниковый диод с лавинным пробоем, предназначенный для ограничения импульсов напряжения |
86. Умножительный диод D. Halbleitervervielflacherdiode E. Semiconductor frequency multiplication diode F. Diode pour multiplication de | Полупроводниковый диод, предназначенный для умножения частоты |
87. Модуляторный диод D. Halbleitermodulatordiode E. Semiconductor modulator diode F. Diode modulatrice ( semiconducteurs) | Полупроводниковый диод, предназначенный для модуляции высокочастотного сигнала |
88. Диод Шоттки D. Schottky-Diode F. Schottky (-barrier) diode F. Diode de Schottky | Полупроводниковый диод, выпрямительные свойства которого основаны на взаимодействии металла и обедненного слоя полупроводника |
89. Варикап D.Kapazitatsdiode E. Variable capacitance diode F. Diode capacite (varicape) | Полупроводниковый диод, действие которого основано на использовании зависимости емкости от обратного напряжения и который предназначен для применения в качестве элемента с электрически управляемой емкостью |
90. Параметрический полупроводниковый диод Параметрический диод D. Halbleitervaraktordiode E. Semiconductor parametric (amplifier) diode F. Diode ( semiconducteurs) | Варикап, предназначенный для применения в диапазоне сверхвысоких частот в параметрических усилителях |
91. Полупроводниковый стабилитрон Стабилитрон Ндп. Зенеровский диод D. Halbleiter-Z-Diode E. Voltage reference diode F. Diode de tension de | Полупроводниковый диод, напряжение на котором сохраняется с определенной точностью при протекании через него тока в заданном диапазоне, и предназначенный для стабилизации напряжения |
92. (Исключен, Изм. N 2). | |
93. Полупроводниковый шумовой диод D. Halbleiterrauschdiode E. Semiconductor noise diode F. Diode de bruit | Полупроводниковый прибор, являющийся источником шума с заданной спектральной плотностью в определенном диапазоне частот |
94. Биполярный транзистор Транзистор D. Bipolarer Transistor E. Bipolar transistor F. Transistor bipolaire | Полупроводниковый прибор с двумя взаимодействующими переходами и тремя или более выводами, усилительные свойства которого обусловлены явлениями инжекции и экстракции неосновных носителей заряда. Примечание. Работа биполярного транзистора зависит от носителей обеих полярностей |
95. Бездрейфовый транзистор Ндп. Диффузионный транзистор D. Diffusionstransistor E. Diffusion transistor F. Transistor diffusion | Биполярный транзистор, в котором перенос неосновных носителей заряда через базовую область осуществляется в основном посредством диффузии |
96. Дрейфовый транзистор D. Drifttransistor E. Drift (diffused) transistor F. Transistor en | Биполярный транзистор, в котором перенос неосновных носителей заряда через базовую область осуществляется в основном посредством дрейфа |
97. Точечный транзистор Ндп.Точечно-контактный диод D. Spitzentransistor E. Point-contact transistor F. Transistor pointe | Биполярный транзистор с точечными переходами |
98. Плоскостной транзистор D. E. Junction transistor F. Transistor jonction | Биполярный транзистор с плоскостными переходами |
99. Лавинный транзистор D. Lawinentransistor E. Avalanche transistor F. Transistor avalanche | Биполярный транзистор, действие которого основано на использовании режима лавинного размножения носителей заряда в коллекторном переходе |
100. Полевой транзистор Ндп. Канальный транзистор D. Feldeffekttransistor (FET) E. Field-effect transistor F. Transistor effet de champ | Полупроводниковый прибор, усилительные свойства которого обусловлены потоком основных носителей, протекающим через проводящий канал и управляемый электрическим полем. Примечание. Действие полевого транзистора обусловлено носителями заряда одной полярности |
101. Полевой транзистор с изолированным затвором D. Feldeffekttransistor mit isoliertem Gate E. Insulated-gate FET F. Transistor effet de champ | Полевой транзистор, имеющий один или несколько затворов, электрически изолированных от проводящего канала |
102. Полевой транзистор типа металл-диэлектрик-полупроводник МДП-транзистор D. MIS-Feldeffekttransistor (MIS-FET) E. MIS-transistor F. Transistor-MIS | Полевой транзистор с изолированным затвором, в котором в качестве изоляционного слоя между каждым металлическим затвором и проводящим каналом используется диэлектрик |
103. Полевой транзистор типа металл-окисел-полупроводник МОП-транзистор D. MOS-Feldeffekttransistor (MOS-FET) E. MOS-transistor F. Transistor-MOS | Полевой транзистор с изолированным затвором, в котором в качестве изоляционного слоя между каждым металлическим затвором и проводящим каналом используется окисел |
104. Симметричный транзистор D. Bidirektionaltransistor E. Bi-directional transistor F. Transistor bi-directionnel | Биполярный или полевой транзистор, сохраняющий свои электрические характеристики при взаимной замене в схеме: включения выводов эмиттера или истока и коллектора или стока |
105. Тиристор D. Thyristor E. Thyristor F. Thyristor | Полупроводниковый прибор с двумя устойчивыми состояниями, имеющий три или более перехода, который может переключаться из закрытого состояния в открытое и наоборот |
106. Диодный тиристор Динистор D. Thyristordiode E. Diode thyristor F. Thyristor diode | Тиристор, имеющий два вывода |
107. Диодный тиристор, не проводящий в обратном направлении D. sperrende Thyristordiode E. Reverse blocking diode thyristor F. Thyristor diode en inverse | Диодный тиристор, который при обратном напряжении не переключается, а находится в обратном непроводящем состоянии |
108. Диодный тиристор, проводящий в обратном направлении D. leitende Thyristordiode E. Reverse conducting diode thyristor F. Thyristor diode passant en inverse | Диодный тиристор, который при обратном напряжении не переключается, а проводит большие токи при напряжениях, сравнимых по значению с прямым напряжением в открытом состоянии |
109. Симметричный диодный тиристор Диак D. Zweirichtungsthyristordiode E. Bi-directional diode thyristor F. Thyristor diode bi-directionnel | Диодный тиристор, способный переключаться как в прямом, так и в обратном направлениях |
110. Триодный тиристор Тринистор D. Thyristordiode E. Triode thyristor F. Thyristor triode | Тиристор, имеющий три вывода |
111. Триодный тиристор, не проводящий в обратном направлении D. sperrende Thyristortriode E. Reverse blocking triode thyristor F. Thyristor triode en inverse | Триодный тиристор, который при обратном напряжении не переключается, а находится в обратном непроводящем состоянии. Примечание. Для триодных тиристоров, не проводящих в обратном направлении, допускается применять термин "тиристор", если исключается возможность другого толкования |
112. Триодный тиристор, проводящий в обратном направлении D. leitende Thyristortriode E. Reverse conducting triode thyristor F. Thyristor triode passant en inverse | Триодный тиристор, который при обратном напряжении не переключается, а проводит большие токи при напряжениях, сравнимых по значению с прямым напряжением в открытом состоянии |
113. Симметричный триодный тиристор Триак D. Zweirichtungsthyristortriode E. Bi-directional triode thyristor; Triac F. Thyristor triode bi-directionnel | Триодный тиристор, который при подаче сигнала на его управляющий вывод включается как в прямом, так и в обратном направлениях |
114. Запираемый тиристор D. Abschaltbarer Thyristor E. Turn-off thyristor F. Thyristor blocable | Тиристор, который может быть переключен из открытого состояния в закрытое и наоборот путем подачи на управляющий вывод управляющих сигналов соответствующей полярности. Примечание. Отношение мощности управления к переключаемой мощности должно быть значительно меньше единицы |
115. (Исключен, Изм. N 2). | |
116. Тиристор с инжектирующим управляющим электродом -типа D. Katodenseitig gesteuerter Thyristor E. P-gate thyristor F. Thyristor P | Тиристор, у которого управляющий электрод соединен с областью, ближайшей к катоду, который переводится в открытое состояние путем подачи на управляющий вывод положительного по отношению к катоду сигнала |
117. Тиристор с инжектирующим управляющим электродом -типа D. Anodenseiltig gesteuerter Thyristor E. N-gate thyristor F. Thyristor N | Тиристор, у которого управляющий электрод соединен с областью, ближайшей к аноду, который переводится в открытое состояние при подаче на управляющий вывод отрицательного по отношению к аноду сигнала |
117a. Лавинный триодный тиристор, непроводящий в обратном направлении Лавинный тиристор Е. Avalanche reverse blocking thyristor | Тиристор с заданными характеристиками в точке минимального напряжения пробоя, предназначенный для рассеивания в течение ограниченной длительности импульса мощности в области пробоя вольт-амперной характеристики обратного непроводящего состояния |
117б. Комбинированно-выключаемый тиристор | Тиристор, выключаемый с помощью тока управления при одновременном воздействии обратного анодного напряжения |
118. Импульсный тиристор E. Pulse thyristor F. Thyristor signal | Тиристор, имеющий малую длительность переходных процессов и предназначенный для применения в импульсных режимах работы |
119. Оптоэлектронный полупроводниковый прибор D. Optoelektronisches Halbleiterbauelement E. Semiconductor optoelectronic device F. Dispositif semiconducteur | Полупроводниковый прибор, излучающий или преобразующий электромагнитное излучение или чувствительный к этому излучению в видимой, инфракрасной и (или) ультрафиолетовой областях спектра, или использующий подобное излучение для внутреннего взаимодействия его элементов |
120. Полупроводниковый излучатель Излучатель D. Halbleiterstrahler E. Semiconductor photoemitter F. semiconducteurs | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор, преобразующий электрическую энергию в энергию электромагнитного излучения |
120a. Полупроводниковый знакосинтезирующий индикатор Е. Semiconductor character display | По ГОСТ 25066 |
120б. Полупроводниковый приемник излучения оптоэлектронного прибора Приемник излучения | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор, преобразующий энергию оптического излучения в электрическую энергию от полупроводникового излучателя и работающего в паре с ним |
(Введен дополнительно, Изм. N 4). | |
121. Оптопара D. Optoelektronischer Koppler E. Photocoupler; Optocoupler F. Photocoupleur | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор, состоящий из излучателя и приемника излучения, между которыми имеется оптическая связь и обеспечена электрическая изоляция |
121а. Резисторная оптопара | Оптопара с приемником излучения, выполненным на основе фоторезистора |
121б. Диодная оптопара | Оптопара с приемником излучения, выполненным на основе фотодиода |
121в. Транзисторная оптопара | Оптопара с приемником излучения, выполненным на основе фототранзистора |
121г. Тиристорная оптопара | Оптопара с приемником излучения, выполненным на основе фототиристора |
121д. (Исключен, Изм. N 3). | |
121е. Полупроводниковый излучатель, работающий с физическим приемником | - |
121а-121е. (Введены дополнительно, Изм N 1). | |
121ж. Дифференциальная диодная оптопара | Диодная оптопара, в которой два близких по определяющим параметрам фотодиода принимают световой поток от одного излучателя |
121з. Тиристорная оптопара с симметричным выходом | Тиристорная оптопара с симметричным диодным или триодным фототиристором |
121ж, 121з. (Введены дополнительно, Изм N 4). | |
122. Светоизлучающий диод СИД D. Lichtemitterdiode (LED) E. Light-emitting diode (LED) | Полупроводниковый диод, излучающий энергию в видимой области спектра в результате рекомбинации электронов и дырок |
123, 123a. (Исключены, Изм. N 2). | |
124. (Исключен, Изм. N 1). | |
125. (Исключен, Изм. N 2). | |
126. Полупроводниковый экран Е. Semiconductor analog indicator | Полупроводниковый прибор, состоящий из светоизлучающих диодов, расположенных вдоль одной линии и содержащих строк светоизлучающих диодов, предназначенный для использования в устройствах отображения аналоговой и цифровой информации |
127. Инфракрасный излучающий диод И-К диод D. Infrarotemitterdiode (IRED) E. Infra-red-emitting diode F. Diode emettrice en infrarouge | Полупроводниковый диод, излучающий энергию в инфракрасной области спектра в результате рекомбинации электронов и дырок |
127a. Фотодиод D. Fotodiode E. Photodiode F. Photodiode | По ГОСТ 21934 |
127б. Фототранзистор D. Fototransistor E. Phototransistor F. Phototransistor | По ГОСТ 21934 |
127в. Фоторезистор D. Fotowiderstand E. Photoconductive cell F. Cellule photoinductive | По ГОСТ 21934 |
127г. Фототиристор D. Fotothyristor E. Photothyristor F. Photothyristor | Тиристор, в котором используется фотоэлектрический эффект |
127д. Оптоэлектронный коммутатор аналогового сигнала | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор, состоящий из излучателя и приемника излучения со схемой коммутации аналогового сигнала на выходе |
127е. Оптоэлектронный коммутатор нагрузки | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор, состоящий из излучателя и приемника излучения со схемой коммутации тока на выходе |
127ж. Оптоэлектронный коммутатор постоянного тока | Оптоэлектронный коммутатор нагрузки со схемой коммутации по цепям постоянного тока |
127з. Оптоэлектронный коммутатор переменного тока | Оптоэлектронный коммутатор нагрузки со схемой коммутации по цепям переменного тока |
127и. Оптоэлектронный переключатель логических сигналов | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор, состоящий из излучателя и приемника излучения со схемой логического ключа на выходе |
127к. Линейный оптоэлектронный полупроводниковый прибор | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор, состоящий из дифференциальной оптопары или двух диодных оптопар и предназначенный для преобразования сигналов, изменяющихся по закону непрерывной функции |
127л. Октрон | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор, в котором оптическая связь между излучателем и приемником излучения осуществляется по открытому оптическому каналу |
127м. Отражательный октрон | Октрон, в котором приемник излучения принимает световой поток, отраженный от отражательной поверхности, расположенной на определенном расстоянии от излучателя |
127н. Щелевой октрон | Октрон в котором между излучателем и приемником излучения для управления световым потоком устанавливают свето-непроницаемую заслонку |
127о. Волстрон | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор, в котором оптическая связь между излучателем и приемником излучения осуществляется по протяженному оптическому каналу. Примечание. Излучатель и приемник излучения могут иметь схемы электронного обрамления |
127п. Оптопреобразователь | Оптоэлектронный полупроводниковый прибор с одним или несколькими переходами, работающими в режиме передачи и (или) приема оптического излучения |
127р. Линейка оптоэлектронных полупроводниковых приборов | Совокупность оптоэлектронных полупроводниковых приборов, расположенных с заданным шагом на одной линии |
127с. Матрица оптоэлектронных полупроводниковых приборов | Совокупность оптоэлектронных полупроводниковых приборов, сгруппированных по строкам и столбцам |
127а-127с. (Введены дополнительно, Изм 4). | |
ЭЛЕМЕНТЫ КОНСТРУКЦИИ | |
128. Вывод полупроводникового прибора Вывод D. Anschluss eines Halbleiterbauelementes E. Terminal (of a semiconductor device) F. Borne | Элемент конструкции корпуса полупроводникового прибора, необходимый для соединения соответствующего электрода с внешней электрической цепью |
129. Основной вывод полупроводникового прибора D. Basisanschluss eines Halbleiterbauelementes E. Main terminal F. Borne principale | Вывод полупроводникового прибора, через который протекает основной ток |
130. Катодный вывод полупроводникового прибора D. Katodenschluss eines Halbleiterbauelementes E. Cathode terminal (of a semiconductor device) F. Cathode | Вывод полупроводникового прибора, от которого прямой ток течет во внешнюю электрическую цепь |
131. Анодный вывод полупроводникового прибора D. Anodenanschluss eines Halbleiterbauelementes E. Anode terminal (of a semiconductor device) F. Anode | Вывод полупроводникового прибора, к которому прямой ток течет из внешней электрической цепи |
132. Управляющий вывод полупроводникового прибора E. Gate terminal (of a semiconductor device) F. Grille | Вывод полупроводникового прибора, через который течет только ток управления |
133. Корпус полупроводникового прибора Корпус D. eines Halbleiterbauelementes E. Package (case) (of a semiconductor device) F. Capsule | Часть конструкции полупроводникового прибора, предназначенная для защиты от воздействия окружающей среды, а также для присоединения прибора к внешним схемам с помощью выводов |
134. Бескорпусный полупроводниковый прибор Ндп. Полупроводниковая структура D. Halbleiterbauelement E. Beam lead semiconductor device F. Dispositif semiconducteur sans boitier | Полупроводниковый прибор, не защищенный корпусом и предназначенный для использования в гибридных интегральных микросхемах, герметизируемых блоках и аппаратуре |
135. Полупроводниковый излучающий элемент | Часть полупроводникового прибора отображения информации, состоящая из излучающей поверхности и контактов для подключения к электрической схеме |
135а. Электрод полупроводникового прибора Е. Electrode (of a semiconductor device) | Часть полупроводникового прибора, обеспечивающая электрический контакт между определенной областью полупроводникового прибора и выводом |