ГОСТ 8.557-91 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Государственная поверочная схема для средств измерений спектральных, интегральных редуцированных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,2-50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений
1. ЭТАЛОНЫ
1.1. Государственный первичный эталон применяют для передачи размера единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
2,5 мкм вторичным эталонам непосредственным сличением, методами прямых и косвенных измерений и рабочим средствам измерений методом прямых измерений.
1.2. В качестве эталона-копии единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
20,0 мкм применяют комплексы, состоящие из спектро-фотометрической установки, наборов мер из образцов нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений
=0,001
0,100 и 0,01
0,99;
=0,02
1,00 и
=0,01
0,05 и 0,05
0,95.
В качестве эталона сравнения единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
20,0 мкм применяют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов прозрачного нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений
=0,001
0,990;
=0,02
1,00;
=0,01
0,05 и 0,05
0,95.
В качестве рабочих эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
20,0 мкм применяют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений
=0,001
0,990;
=0,01
1,00 и
=0,01
0,95.
В качестве рабочих эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
20,0 мкм применяют спектрофотометрические установки в диапазонах измерений
=0,001
0,100 и 0,01
0,99 и
=
=0,01
1,00.
В качестве рабочих эталонов единиц интегральных (для заданных источников излучения) и редуцированных (для заданных источников излучения и редуцирующих функций) коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
20,0 мкм применяют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов нейтрального оптического стекла, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений
=0,001
0,990 и
=
=0,01
1,00.
1.3. Средние квадратические отклонения результатов измерений эталона-копии единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
20,0 мкм с государственным составляют:
для направленного пропускания:
в диапазоне измерений 0,010,100 в диапазоне длин волн 0,2
50,0 мкм
- от 0,0005 до 0,0010;
в диапазоне измерений 0,0010,99 в диапазоне длин волн 0,2
0,4 мкм
- 0,001; в диапазоне длин волн 0,40,9 мкм
- 0,0005;
в диапазоне длин волн 0,950,0 мкм
- 0,001;
для диффузного отражения:
в диапазоне измерений 0,021,00
- от 0,002 до 0,0015;
для зеркального отражения:
в диапазоне измерений 0,010,05
- от 0,0005 до 0,0010;
в диапазоне измерений 0,050,95
- от 0,001 до 0,010.
Средние квадратические отклонения результатов измерений эталона сравнения единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
20,0 мкм с государственным составляют:
для направленного пропускания в диапазоне измерений 0,0010,990
- от 0,001 до 0,002;
для диффузного отражения в диапазоне измерений 0,021,00
- от 0,002 до 0,005;
для зеркального отражения:
в диапазоне измерений 0,010,05
- от 0,0005 до 0,0010;
в диапазоне измерений 0,050,95
- от 0,002 до 0,005.
Средние квадратические отклонения результатов измерений рабочих эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
20,0 мкм (наборов мер) с государственным составляют:
для направленного пропускания в диапазоне измерений 0,0010,990
- от 0,0010 до 0,0015;
для диффузного отражения в диапазоне измерений 0,011,00 и зеркального отражения в диапазоне измерений 0,01
0,95
=
- от 0,0035 до 0,0200.
Средние квадратические отклонения результатов измерений рабочих эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2
20,0 мкм (спектрофотометрических установок) с государственным составляют:
для направленного пропускания:
в диапазоне измерений 0,0010,100
- 0,0010 до 0,0015;