1.1. Государственный первичный эталон применяют для передачи размера единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,2
50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,22,5 мкм вторичным эталонам непосредственным сличением, методами прямых и косвенных измерений и рабочим средствам измерений методом прямых измерений.
1.2. В качестве эталона-копии единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют комплексы, состоящие из спектро-фотометрической установки, наборов мер из образцов нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений 
=0,0010,100 и 0,010,99; 
=0,021,00 и 
=0,010,05 и 0,050,95.
В качестве эталона сравнения единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов прозрачного нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений =0,0010,990; =0,021,00; =0,010,05 и 0,050,95.
В качестве рабочих эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений =0,0010,990; =0,011,00 и =0,010,95.
В качестве рабочих эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют спектрофотометрические установки в диапазонах измерений =0,0010,100 и 0,010,99 и ==0,011,00.
В качестве рабочих эталонов единиц интегральных (для заданных источников излучения) и редуцированных (для заданных источников излучения и редуцирующих функций) коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов нейтрального оптического стекла, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений 
=0,0010,990 и
=
=0,011,00.
1.3. Средние квадратические отклонения результатов измерений эталона-копии единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм с государственным составляют:
для направленного пропускания:
в диапазоне измерений 0,010,100 в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм 
- от 0,0005 до 0,0010;
