1.1. Государственный специальный эталон
1.1.1. Государственный специальный эталон предназначен для воспроизведения и хранения единиц бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,21,0 ГГц и передачи размера единиц при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений рабочим средствам измерений, применяемым в народном хозяйстве с целью обеспечения единства измерений в стране.
1.1.2. В основу измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,21,0 ГГц должны быть положены единицы, воспроизводимые указанным эталоном.
1.1.3. Государственный специальный эталон состоит из комплекса следующих средств измерений:
комплект эталонных двухполюсников;
комплект эталонных четырехполюсников;
компаратор для воспроизведения единиц бикомплексной проницаемости и передачи их размеров вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда.
1.1.4. Диапазон значений относительных единиц бикомплексной проницаемости, воспроизводимых эталоном, составляет 110 для действительных частей (диэлектрической
и магнитной
), 1·10
1 для мнимых частей (диэлектрической
и магнитной
)
.
1.1.5. Государственный специальный эталон обеспечивает воспроизведение единиц со средним квадратическим отклонением результата измерений , не превышающим 1·10
для действительных частей, 2·10
1·10
- для мнимых частей при десяти независимых наблюдениях. Неисключенная систематическая погрешность
не превышает 2·10
для действительных частей, 5·10
2·10
- для мнимых частей.
Нестабильность эталона за год составляет 0,7·10
для действительных частей и 0,01
0,05 для мнимых частей бикомплексной проницае
мости.
1.1.6. Для обеспечения воспроизведения единиц бикомплексной проницаемости с указанной точностью должны быть соблюдены правила хранения и применения эталона, утвержденные в установленном порядке.
1.1.7. Государственный специальный эталон применяют для передачи размера единиц бикомплексной проницаемости вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда непосредственным сличением, методом прямых измерений и методом косвенных измерений.
1.2. Вторичные эталоны