4.1. В печь, подготовленную в соответствии с п.3.1, помещают сосуды с образцами и выдерживают при заданной температуре и времени, после чего их вынимают из печи и охлаждают на воздухе.
4.2. Образцы проверяют на наличие следов кристаллизации того или иного вида визуально, без применения увеличительных приборов, на темном фоне или с применением микроскопа. Требование о применении увеличительных приборов указывается в нормативно-технической документации на продукцию.
Результат испытания считают неудовлетворительным при обнаружении следов кристаллизации.
(Измененная редакция, Изм. N 2).
4.3. При нормировании толщины слоя кристаллизации в нормативно-технической документации на продукцию его толщину определяют под микроскопом в следующей последовательности:
готовят микроскоп для работы в отраженном свете и определяют цену деления окулярного микрометра с помощью объект-микрометра для соответствующего увеличения объектива;
от образцов откалывают куски для рассмотрения поверхности на границе скола;
поверхность скола располагают нормально к оптической оси микроскопа;
осматривают слой кристаллизации по периметру скола образцов;
проводят не менее 10 измерений толщины слоя кристаллизации в нескольких точках по периметру скола;
за результат испытания толщины слоя кристаллизации принимают среднее арифметическое показателей 10 измерений, отличающихся от среднего не более чем на 10%.
4.2, 4.3. (Измененная редакция, Изм. N 1).
4.4-4.6. (Исключены, Изм. N 1).
Электронный текст документа
подготовлен АО "Кодекс" и сверен по:
официальное издание
М.: Издательство стандартов, 1989