Статус документа
Статус документа

ГОСТ 23479-79 Контроль неразрушающий. Методы оптического вида. Общие требования (с Изменениями N 1, 2)

1. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

1.1. Методы оптического вида контроля основаны на применении электромагнитного излучения в диапазоне длин волн от до мкм.

1.2. Методы оптического вида контроля и области их применения приведены в табл.1.

Таблица 1

Название метода


Область применения

Факторы, ограничивающие область применения

Контролируемые параметры

Чувстви- тельность

Погреш-
ность, %

Визуальный

Дефектоскопия, контроль формы

Диапазон длин волн должен быть 0,38-0,76 мкм

Дефектность, отклонение от заданной формы

0,1 мм

-

Визуально-

оптический

Дефектоскопия с помощью микроскопов, стереоскопия, размерный контроль с помощью проекционных устройств, эндоскопия внутренних поверхностей, интроскопия

Минимальная яркость изображения объекта контроля не менее 1 кд/м

Размеры изделий, дефектов, отклонения от заданной формы

0,1-1,0

Интерферо-

метрический

Оптическая толщинометрия, контроль формы полированных изделий, анализ шероховатости

Применим только для полированных поверхностей

Сферичность, плоскостность, толщина

0,1

Дифракци-

онный

Контроль размеров тонких волокон, формы острых кромок, структуры

Размеры дефектов должны быть сравнимы с длиной волны света

Диаметры волокон, размеры дефектов, острых кромок


1,0

Поляризаци-

онный

Контроль напряжений в прозрачных средах методом фотоупругости, анализ степени поляризации источников света, эллипсометрическая толщинометрия

Применим только для оптически прозрачных сред

Вращение плоскости поляризации двулучепреломление, толщина

1,0

Фазово-

контрастный

Контроль оптической неоднородности прозрачных сред

Применим только для оптически прозрачных сред

Градиент показателя преломления


0,01

Рефракто-

метрический

Дисперсионный контроль оптических сред, измерение концентрации растворов

Применим только для оптически прозрачных сред

Показатель преломления

0,01

Рефлексо-
метрический

Контроль шероховатости поверхности изделий, измерение блеска и глянца

Коэффициент отражения должен быть не менее 1%

Коэффициент отражения, индикатрисса отражения


1,0

Денсито-
метрический

Анализ оптической плотности светофильтров, прозрачных пленок

Применим для нерассеивающих прозрачных сред

Оптическая плотность, коэффициент пропускания

1,0

Спектраль-
ный

Контроль спектральных характеристик изделий в отраженном и проходящем свете, анализ состава газовых смесей, жидкостей, твердых веществ

-

Спектральные коэффициенты отражения, поглощения, пропускания, концентрация вещества

1,0

Колоримет-
рический

Анализ цвета изделий

Наличие источников посторонней засветки

Координаты цвета

100,0 мкм

1,0

Нефеломет-
рический

Анализ структуры кристаллов, стекол, растворов, газов, гранулометрия

-

Индикатрисса рассеяния, коэффициенты рассеяния, концентрация объемных включений

1,0

Стробоско-
пический

Дефектоскопия и размерный контроль подвижных объектов

-

Угловая скорость

с

5,0

Фотометри-
ческий

Измерение характеристик источников оптического излучения

-

Яркость




Освещенность

кд/м

лк

5,0

Голографи-
ческий

Контроль геометрии объектов сложной формы, однородности оптических сред

Малая когерентность лазера, вибрации

Деформации, перемещения, отклонение от заданной формы, градиенты показателя преломления

1,0

Телевизи-
онный

Электронно-оптический анализ структуры веществ, измерение линейных размеров

-

Гранулометрические характеристики, размеры дефектов

1,0


Примечание. - минимальная разность длин волн, при которой возможно измерение спектральных характеристик объектов;

- длина волны света;

- апертура оптической системы,

где   - показатель преломления;

- апертурный угол.