ГОСТ 23479-79
Группа Т59
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
Контроль неразрушающий
МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКОГО ВИДА
Общие требования
Non-destructive testing. Optic methods. General requirements
МКС 19.100
ОКСТУ 0011
Дата введения 1980-01-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 7 февраля 1979 г. N 484 дата введения установлена 01.01.80
Ограничение срока действия снято по протоколу N 4-93 Межгосударственного совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 4-94).
ИЗДАНИЕ с Изменениями N 1, 2, утвержденными в августе 1984 г., июне 1989 г. (ИУС 12-84, 11-89).
Настоящий стандарт распространяется на методы оптического вида неразрушающего контроля объектов и устанавливает общие требования к аппаратуре, стандартным образцам, порядку подготовки и проведению контроля, оформлению результатов и требования безопасности.
Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их пояснения приведены в приложении.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
1.1. Методы оптического вида контроля основаны на применении электромагнитного излучения в диапазоне длин волн от до
мкм.
1.2. Методы оптического вида контроля и области их применения приведены в табл.1.
Таблица 1
Название метода | Область применения | Факторы, ограничивающие область применения | Контролируемые параметры | Чувстви- тельность | Погреш- | |
Визуальный | Дефектоскопия, контроль формы | Диапазон длин волн должен быть 0,38-0,76 мкм | Дефектность, отклонение от заданной формы | 0,1 мм | - | |
Визуально- оптический | Дефектоскопия с помощью микроскопов, стереоскопия, размерный контроль с помощью проекционных устройств, эндоскопия внутренних поверхностей, интроскопия | Минимальная яркость изображения объекта контроля не менее 1 кд/м | Размеры изделий, дефектов, отклонения от заданной формы | 0,1-1,0 | ||
Интерферо- метрический | Оптическая толщинометрия, контроль формы полированных изделий, анализ шероховатости | Применим только для полированных поверхностей | Сферичность, плоскостность, толщина | 0,1 | ||
Дифракци- онный | Контроль размеров тонких волокон, формы острых кромок, структуры | Размеры дефектов должны быть сравнимы с длиной волны света | Диаметры волокон, размеры дефектов, острых кромок | 1,0 | ||
Поляризаци- онный | Контроль напряжений в прозрачных средах методом фотоупругости, анализ степени поляризации источников света, эллипсометрическая толщинометрия | Применим только для оптически прозрачных сред | Вращение плоскости поляризации двулучепреломление, толщина | 1,0 | ||
Фазово- контрастный | Контроль оптической неоднородности прозрачных сред | Применим только для оптически прозрачных сред | Градиент показателя преломления | 0,01 | ||
Рефракто- метрический | Дисперсионный контроль оптических сред, измерение концентрации растворов | Применим только для оптически прозрачных сред | Показатель преломления | 0,01 | ||
Рефлексо- | Контроль шероховатости поверхности изделий, измерение блеска и глянца | Коэффициент отражения должен быть не менее 1% | Коэффициент отражения, индикатрисса отражения | 1,0 | ||
Денсито- | Анализ оптической плотности светофильтров, прозрачных пленок | Применим для нерассеивающих прозрачных сред | Оптическая плотность, коэффициент пропускания | 1,0 | ||
Спектраль- | Контроль спектральных характеристик изделий в отраженном и проходящем свете, анализ состава газовых смесей, жидкостей, твердых веществ | - | Спектральные коэффициенты отражения, поглощения, пропускания, концентрация вещества | 1,0 | ||
Колоримет- | Анализ цвета изделий | Наличие источников посторонней засветки | Координаты цвета | 100,0 мкм | 1,0 | |
Нефеломет- | Анализ структуры кристаллов, стекол, растворов, газов, гранулометрия | - | Индикатрисса рассеяния, коэффициенты рассеяния, концентрация объемных включений | 1,0 | ||
Стробоско- | Дефектоскопия и размерный контроль подвижных объектов | - | Угловая скорость |
| 5,0 | |
Фотометри- | Измерение характеристик источников оптического излучения | - | Яркость Освещенность |
| 5,0 | |
Голографи- | Контроль геометрии объектов сложной формы, однородности оптических сред | Малая когерентность лазера, вибрации | Деформации, перемещения, отклонение от заданной формы, градиенты показателя преломления | 1,0 | ||
Телевизи- | Электронно-оптический анализ структуры веществ, измерение линейных размеров | - | Гранулометрические характеристики, размеры дефектов | 1,0 |
Примечание. - минимальная разность длин волн, при которой возможно измерение спектральных характеристик объектов;
- длина волны света;
- апертура оптической системы,
где - показатель преломления;
- апертурный угол.
2.1. При контроле оптическим методом применяют аппаратуру по ГОСТ 12997-84 и техническим условиям, утвержденным в установленном порядке.
2.2. Основными характеристиками аппаратуры оптического вида контроля должны быть:
разрешающая способность;
диапазон рабочих температур;
поле зрения;
предел допускаемой основной погрешности измерения (для аппаратуры с измерительной системой).
2.1, 2.2. (Измененная редакция, Изм. N 2).
2.3. Величины погрешности аппаратуры должны определяться по стандартам и техническим условиям на конкретные типы аппаратуры, а виды нормируемых характеристик средств измерений должны соответствовать ГОСТ 8.009-84.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
2.4. Аппаратура оптического вида контроля должна обеспечивать качество изображения дефектов (яркость, цвет, контраст, размер, время анализа), необходимое для обеспечения оптимальных условий их наблюдения.
2.5. При выборе аппаратуры следует предпочитать (при одинаковых характеристиках) приборы c экранным методом наблюдения, вызывающие меньшее зрительное утомление.
2.6. Для защиты от попадания в глаз оператора мешающих наблюдению световых лучей аппаратура должна иметь соответствующие устройства (диафрагмы, бленды и т.п.).
2.7. Для настройки и периодической проверки работоспособности и расшифровки показаний аппаратуры должны использоваться стандартные образцы, разрабатываемые и изготавливаемые по технической документации разработчика аппаратуры или по отраслевым и междуведомственным техническим документам.
2.8. При приемо-сдаточных, периодических и типовых испытаниях аппаратуры должны использоваться стандартные образцы, разработанные предприятием - разработчиком аппаратуры и изготовленные предприятием - изготовителем аппаратуры.
2.7, 2.8. (Измененная редакция, Изм. N 2).
2.9. Для проверки аппаратуры непосредственно перед проведением контроля объектов, а также для контроля методом сравнения с объектом могут быть использованы образцы, специально изготовленные потребителем аппаратуры, с внесением определенного вида дефектов.
Наименьший размер выявляемых дефектов должен не менее чем в три раза превышать величину микронеровностей рельефа поверхности контролируемых объектов.
Примечание. Допускается использование имитаторов.
2.10. (Исключен, Изм. N 2).
3.1. Подготовка аппаратуры и объекта контроля должна производиться в соответствии с технической документацией на контроль и включать:
подготовку объекта контроля к операциям контроля;
проверку работоспособности аппаратуры;
выбор условий контроля.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
3.2. Подготовка контролируемого объекта к операциям контроля должна производиться в следующей последовательности:
до начала проведения контроля с поверхности объекта контроля удаляют частицы или загрязнения, мешающие проведению контроля;
определяют границы контролируемого участка и характер дефектов.
3.3. Проверка работоспособности аппаратуры должна производиться в соответствии с инструкцией по эксплуатационной документации.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
3.4. Выбор условий контроля должен сводиться к обеспечению нормальных условий освещенности контролируемого объекта, установлению требуемого режима работы и взаимного расположения объекта контроля и аппаратуры.
3.5. Схемы испытаний методами оптического вида контроля приведены в табл.2.
Таблица 2
Способ освещения | Схема испытаний | Области применения |
В отраженном свете |
| Контроль поверхностных дефектов непрозрачных материалов, измерение линейных размеров |
В проходящем свете |
| Контроль внутренних напряжений, наличия включений в прозрачных материалах, измерение линейных размеров |
В рассеянном свете |
| Контроль диффузно-отражающих изделий, обнаружение включений по методу темного поля, измерение блеска, цвета и яркости поверхности |
Комбинированное освещение |
| Контроль кристаллов, полупрозрачных материалов, анализ структуры и микрорельефа поверхности изделий |
Обозначения: 1 - источник излучения; 2 - объект контроля; 3 - приемное устройство; 4 - зеркальная составляющая отраженного потока.
Примечания:
1. Схема испытаний зависит от размера и формы объекта и выбирается с учетом оптимальных условий выявляемости конкретного типа дефектов.
2. Параметры источника излучения (интенсивность, спектр, поляризация, пространственно-временное распределение интенсивности, степень когерентности) следует выбирать так, чтобы обеспечить максимальный контраст изображения.
3.6. Нормы освещенности поверхности объекта при визуальном контроле в зависимости от контраста дефекта с фоном и его размером приведены в табл.3.
Таблица 3
|
| Освещенность, лк, при системе | ||||
Наименьший размер дефекта, мм | Контраст дефекта с фоном | Характерис- тика фона | комбинированного освещения | общего | ||
разрядными лампами | лампами накаливания | разрядными лампами | лампами накаливания | |||
До 0,15 | Малый | Темный | 5000 | 4000 | 1500 | 300 |
Светлый | 4000 | 3000 | 1250 | 300 | ||
Средний | Темный | 3000 | 3000 | 1000 | 300 | |
Светлый | 3000 | 2000 | 1050 | 300 | ||
Большой | Темный | 1500 | 1250 | 400 | 300 | |
Светлый | 1500 | 1250 | 400 | 300 | ||
От 0,15 до 0,30 | Малый | Темный | 4000 | 3000 | 1250 | 300 |
Светлый | 3000 | 2500 | 750 | 300 | ||
Средний | Темный | 3000 | 2500 | 750 | 300 | |
Светлый | 2000 | 1500 | 500 | 300 | ||
Большой | Темный | 2000 | 1500 | 500 | 300 | |
Светлый | 1000 | 750 | 300 | 250 | ||
От 0,30 до 0,50 | Малый | Темный | 2000 | 1500 | 500 | 300 |
Светлый | 1000 | 750 | 300 | 200 | ||
Средний | Темный | 1000 | 750 | 500 | 300 | |
Светлый | 750 | 600 | 300 | 200 | ||
Большой | Темный | 750 | 600 | 300 | 200 | |
Светлый | 400 | 400 | 200 | 150 | ||
От 0,50 до 1,00 | Малый | Темный | 750 | 600 | 300 | 200 |
Светлый | 500 | 600 | 200 | 150 | ||
| Средний | Темный | 500 | 500 | 200 | 150 |
Светлый | 500 | 400 | 150 | 100 | ||
Большой | Темный | 400 | 400 | 150 | 100 | |
Светлый | 300 | 300 | 150 | 100 |