ГОСТ 23479-79
Группа Т59
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
Контроль неразрушающий
МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКОГО ВИДА
Общие требования
Non-destructive testing. Optic methods. General requirements
МКС 19.100
ОКСТУ 0011
Дата введения 1980-01-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 7 февраля 1979 г. N 484 дата введения установлена 01.01.80
Ограничение срока действия снято по протоколу N 4-93 Межгосударственного совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 4-94).
ИЗДАНИЕ с Изменениями N 1, 2, утвержденными в августе 1984 г., июне 1989 г. (ИУС 12-84, 11-89).
Настоящий стандарт распространяется на методы оптического вида неразрушающего контроля объектов и устанавливает общие требования к аппаратуре, стандартным образцам, порядку подготовки и проведению контроля, оформлению результатов и требования безопасности.
Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их пояснения приведены в приложении.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
1. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
1.1. Методы оптического вида контроля основаны на применении электромагнитного излучения в диапазоне длин волн от до
мкм.
1.2. Методы оптического вида контроля и области их применения приведены в табл.1.
Таблица 1
Название метода | Область применения | Факторы, ограничивающие область применения | Контролируемые параметры | Чувстви- тельность | Погреш- | |
Визуальный | Дефектоскопия, контроль формы | Диапазон длин волн должен быть 0,38-0,76 мкм | Дефектность, отклонение от заданной формы | 0,1 мм | - | |
Визуально- оптический | Дефектоскопия с помощью микроскопов, стереоскопия, размерный контроль с помощью проекционных устройств, эндоскопия внутренних поверхностей, интроскопия | Минимальная яркость изображения объекта контроля не менее 1 кд/м | Размеры изделий, дефектов, отклонения от заданной формы |
| 0,1-1,0 | |
Интерферо- метрический | Оптическая толщинометрия, контроль формы полированных изделий, анализ шероховатости | Применим только для полированных поверхностей | Сферичность, плоскостность, толщина | 0,1 | ||
Дифракци- онный | Контроль размеров тонких волокон, формы острых кромок, структуры | Размеры дефектов должны быть сравнимы с длиной волны света | Диаметры волокон, размеры дефектов, острых кромок | 1,0 | ||
Поляризаци- онный | Контроль напряжений в прозрачных средах методом фотоупругости, анализ степени поляризации источников света, эллипсометрическая толщинометрия | Применим только для оптически прозрачных сред | Вращение плоскости поляризации двулучепреломление, толщина |
| 1,0 | |
Фазово- контрастный | Контроль оптической неоднородности прозрачных сред | Применим только для оптически прозрачных сред | Градиент показателя преломления |
| 0,01 | |
Рефракто- метрический | Дисперсионный контроль оптических сред, измерение концентрации растворов | Применим только для оптически прозрачных сред | Показатель преломления |
| 0,01 | |
Рефлексо- | Контроль шероховатости поверхности изделий, измерение блеска и глянца | Коэффициент отражения должен быть не менее 1% | Коэффициент отражения, индикатрисса отражения |
| 1,0 | |
Денсито- | Анализ оптической плотности светофильтров, прозрачных пленок | Применим для нерассеивающих прозрачных сред | Оптическая плотность, коэффициент пропускания |
| 1,0 | |
Спектраль- | Контроль спектральных характеристик изделий в отраженном и проходящем свете, анализ состава газовых смесей, жидкостей, твердых веществ | - | Спектральные коэффициенты отражения, поглощения, пропускания, концентрация вещества |
| 1,0 | |
Колоримет- | Анализ цвета изделий | Наличие источников посторонней засветки | Координаты цвета | 100,0 мкм | 1,0 | |
Нефеломет- | Анализ структуры кристаллов, стекол, растворов, газов, гранулометрия | - | Индикатрисса рассеяния, коэффициенты рассеяния, концентрация объемных включений |
| 1,0 | |
Стробоско- | Дефектоскопия и размерный контроль подвижных объектов | - | Угловая скорость |
| 5,0 | |
Фотометри- | Измерение характеристик источников оптического излучения | - | Яркость Освещенность |
| 5,0 | |
Голографи- | Контроль геометрии объектов сложной формы, однородности оптических сред | Малая когерентность лазера, вибрации | Деформации, перемещения, отклонение от заданной формы, градиенты показателя преломления | 1,0 | ||
Телевизи- | Электронно-оптический анализ структуры веществ, измерение линейных размеров | - | Гранулометрические характеристики, размеры дефектов |
| 1,0 | |
Примечание. - минимальная разность длин волн, при которой возможно измерение спектральных характеристик объектов;
- длина волны света;
- апертура оптической системы,
где - показатель преломления;
- апертурный угол.
2. АППАРАТУРА И СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ
2.1. При контроле оптическим методом применяют аппаратуру по ГОСТ 12997-84 и техническим условиям, утвержденным в установленном порядке.
2.2. Основными характеристиками аппаратуры оптического вида контроля должны быть:
разрешающая способность;
диапазон рабочих температур;
поле зрения;
предел допускаемой основной погрешности измерения (для аппаратуры с измерительной системой).
2.1, 2.2. (Измененная редакция, Изм. N 2).
2.3. Величины погрешности аппаратуры должны определяться по стандартам и техническим условиям на конкретные типы аппаратуры, а виды нормируемых характеристик средств измерений должны соответствовать ГОСТ 8.009-84.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
Попробуйте «Техэксперт: Базовые нормативные документы» бесплатно