1.1. Содержание легирующих компонентов и примесей в сплавах определяют по градуировочным графикам. Предусматривается использование двух методов градуировки приборов:
метода "трех эталонов";
метода "контрольного эталона".
Регистрация спектра - фотографическая и фотоэлектрическая.
При проведении анализа фотографическим методом градуировочные графики строят в координатах:
; ; ,
где - разность почернений линий определяемого элемента и элемента сравнения;
- массовая доля определяемого элемента в стандартных образцах (СО);
- относительная интенсивность линии определяемого элемента и линии сравнения.
При проведении анализов фотоэлектрическим методом градуировочные графики строят в координатах:
; ,
где - массовая доля определяемого элемента в стандартных образцах;
- показания выходного измерительного прибора, пропорциональные логарифму относительной интенсивности линий определяемого элемента и линии сравнения.
Примечание. Для квантометров, в которых показания выходного прибора "" пропорциональны относительной интенсивности спектральных линий, градуировочный график строят в координатах:
или .
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.2. Для испарения пробы и возбуждения спектра используют искровые и дуговые источники света.
1.3. Для градуировки приборов применяют государственные стандартные образцы (ГСО) N 423-73-429-73; 820-76-823-76; 1797-80-1803-80; 2772-83-2776-83; 740-75-747-75; 740-84 П-744-84 П; 2329-82-2535-82; 2336-82-2343-82.
Допускается применение отраслевых стандартных образцов (ОСО) N 1-81-4-81; 9-81-12-81; 5-81-8-81; 62-82-65-82; 74-83-83-83, стандартных образцов предприятий (СОП), а также вновь выпускаемых стандартных образцов состава магниевых сплавов всех категорий.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.4. Проверку правильности определения массовой доли элементов проводят, сравнивая результаты спектрального анализа с результатами анализа, выполненного химическими методами по ГОСТ 3240.0-ГОСТ 3240.21.
Значение абсолютного допускаемого расхождения в процентах должно быть не более рассчитанного по формуле
,
где - результат анализа пробы, выполненного химическим методом, %;
- результат анализа пробы, выполненного спектральным методом, %;
- относительное среднее квадратическое отклонение, характеризующее воспроизводимость результатов спектрального анализа;