ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения

ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Справочное

     
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭНЕРГИИ ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ ПРОСВЕЧИВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ, НЕ ПРИВЕДЕННЫХ В ТАБЛ. 2-7

1. Для материала, не приведенного в табл. 2-7 настоящег\о стандарта, значение толщины, соответствующее приведенному в этих таблицах значению напряжения на рентгеновской трубке или энергии ускоренных электронов, определяют по формуле

                                                                    (1)

где - эффективная энергия излучения;

         - линейный коэффициент ослабления излучения (см. приложение 2);

         - линейный коэффициент ослабления излучения;

        - толщина просвечиваемого материала, не приведенного в табл. 2-7 настоящего стандарта;

        - контролируемая толщина просвечиваемого материала, приведенного в табл. 2-7 настоящего стандарта.

Эффективная энергия для излучения рентгеновских аппаратов напряжением до 1000 кВ вдали от скачков фотоэлектрического поглощения в килоэлектроновольтах численно равна 2/3 максимального напряжения на рентгеновской трубке в киловольтах.

Эффективная энергия для тормозного излучения бетатронов равна:

при MэB,                                                                                     (2)

при MэB,                                                                                    (3)

где - энергия электронов, ускоренных в бетатронах.

2. Толщину материала, не приведенного в табл. 3 и 7 настоящего стандарта и подвергаемого просвечиванию излучением радиоактивных источников, следует определять по формуле

                                                                                                    (4)

где и - толщина и плотность материала, не приведенного в табл. 3 и 7 соответственно;

и - толщина и плотность материала, приведенного в табл. 3 и 7, соответственно.

3. В формулах (1) и (4) в качестве следует использовать толщину такого материала, выбранного по табл. 2-7, средний атомный номер которого является ближайшим к среднему атомному номеру материала объекта контроля или, в случае сложных веществ, к атомному номеру химического элемента, массовая доля которого является основной.

4. Линейный коэффициент ослабления для сложных веществ следует определять по формуле

                                                                         (5)

где - линейные коэффициенты ослабления излучения 1, 2-м,..., -м элементом, входящим в состав сложного вещества;

- плотность 1, 2-го, ... ,-го элемента, входящего в состав сложного вещества;

-относительная массовая доля 1, 2-го,..., -го элемента, входящего в состав сложного вещества;

- плотность сложного вещества.