1. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ
1.1. Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля основан на явлении притяжения частиц магнитного порошка магнитными потоками рассеяния, возникающими над дефектами в намагниченных объектах контроля.
Наличие и протяженность индикаторных рисунков, вызванных полями рассеяния дефектов, можно регистрировать визуально или автоматическими устройствами обработки изображения.
1.2. Магнитопорошковый метод предназначен для выявления поверхностных и подповерхностных нарушений сплошности: волосовин, трещин различного происхождения, непроваров сварных соединений, флокенов, закатов, надрывов и т.п.
1.3. Магнитопорошковый метод применяют для контроля объектов из ферромагнитных материалов с магнитными свойствами, позволяющими создавать в местах нарушения сплошности магнитные поля рассеяния, достаточные для притяжения частиц магнитного порошка.
Метод может быть использован для контроля объектов с немагнитными покрытиями.
1.4. Чувствительность магнитопорошкового метода определяется магнитными характеристиками материала объекта контроля, его формой, размерами и шероховатостью поверхности, напряженностью намагничивающего поля, местоположением и ориентацией дефектов, взаимным направлением намагничивающего поля и дефекта, свойствами дефектоскопического материала, способом его нанесения на объект контроля, а также способом и условиями регистрации индикаторного рисунка выявляемых дефектов.
1.5. В зависимости от размеров выявляемых дефектов устанавливаются три условных уровня чувствительности, приведенные в табл.1.
Таблица 1
Условный уровень чувствительности | Минимальная ширина раскрытия условного дефекта, мкм | Минимальная протяженность условного дефекта, мм |
А | 2,0 | 0,5 |
Б | 10,0 | |
В | 25,0 |
Примечания:
1. Условный уровень чувствительности А достигается при параметре шероховатости контролируемой поверхности 2,5 мкм, уровни чувствительности Б и В - при 10 мкм.
2. При выявлении подповерхностных дефектов, а также при 10 мкм чувствительность метода понижается и условный уровень чувствительности не нормируется.
3. При контроле изделий с немагнитными покрытиями с увеличением толщины покрытия чувствительность метода понижается.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.6. Вид, местоположение и ориентация недопустимых дефектов, а также необходимый уровень чувствительности контроля конкретных изделий устанавливаются в отраслевой нормативно-технической документации на контроль изделий.
1.7. Магнитопорошковый контроль проводится по технологическим картам согласно ГОСТ 3.1102 и ГОСТ 3.1502, в которых указывают: наименование изделия (узла), наименование и номер детали, эскиз детали с указанием габаритных размеров, зону контроля, способ контроля, вид и схему намагничивания, значения намагничивающего тока или напряженности магнитного поля, средства контроля (аппаратура, дефектоскопические материалы), нормы на отбраковку.