СОГЛАШЕНИЕ

между Правительством Российской Федерации
и Правительством Республики Белоруссия о сотрудничестве
в области создания оптико-механического и контрольного
оборудования для производства сверхбольших интегральных схем
с топологическими элементами 0,8-0,5 мкм

Правительство Российской Федерации и Правительство Республики Белоруссия, в дальнейшем именуемые Сторонами, основываясь на положениях:

Соглашения о научно-техническом сотрудничестве в рамках государств - участников Содружества Независимых Государств, подписанного 13 марта 1992 г.,

Соглашения об общих условиях и механизме поддержки развития производственной кооперации предприятий и отраслей государств участников Содружества Независимых Государств, подписанного 23 декабря 1993 г.,

согласились о нижеследующем:

                           

Статья 1

Стороны обеспечат необходимые условия для реализации совместной российско-белорусской научно-технической программы "Разработка и создание оптико-механического и контрольного оборудования для производства сверхбольших интегральных схем с топологическими элементами 0,8-0,5 мкм" (далее именуется Программа), являющейся неотъемлемой частью настоящего Соглашения.

                         

Статья 2

Органами, ответственными за реализацию обязательств Сторон по настоящему Соглашению, являются:

с Российской Стороны - Государственный комитет Российской Федерации по оборонным отраслям промышленности;

с Белорусской Стороны - Министерство промышленности Республики Белоруссия.

                          

Статья 3

Ответственные органы в 3-месячный срок после вступления в силу настоящего Соглашения определят головных исполнителей Программы с каждой Стороны и заключат с ними соответствующие договоры.

                         

Статья 4

Финансирование работ осуществляется в пределах ежегодных бюджетных ассигнований на указанные цели в соответствии с Программой в порядке, согласованном ответственными органами и министерствами финансов Российской Федерации и Республики Белоруссия.

                         

Статья 5

По завершении разработки отдельных типов оборудования Российская Сторона пользуется преимущественным правом на его приобретение при серийном производстве.

Порядок распределения прибыли от реализации серийной продукции, созданной в рамках настоящего Соглашения, определяется контрактами (договорами), заключенными предприятиями Российской Федерации и Республики Белоруссия.

                         

Статья 6

Взаимные поставки сырья, материалов, полуфабрикатов, комплектующих изделий, оборудования, учебного и вспомогательного имущества, услуги технологического и научно-технического характера в рамках настоящего Соглашения осуществляются в соответствии с законодательством Российской Федерации и законодательством Республики Белоруссия на основе контрактов (договоров), заключаемых их хозяйствующими субъектами.

                          

Статья 7

Каждая из Сторон не будет продавать и передавать третьей стороне, в том числе иностранным физическим и юридическим лицам и международным организациям, взаимопоставляемую и созданную в рамках настоящего Соглашения продукцию, научную и техническую информацию о ней, результаты исследований, а также использовать изобретения, ноу-хау без предварительного разрешения ответственного органа другой Стороны.

                          

Статья 8

Разногласия в связи с толкованием и применением положений настоящего Соглашения разрешаются Сторонами путем переговоров.

                           

Статья 9

Настоящее Соглашение заключается сроком на четыре года и будет автоматически продлеваться каждый раз на последующий год, если ни одна из Сторон не уведомит другую Сторону в письменной форме не позднее шести месяцев до истечения очередного срока действия Соглашения о своем намерении прекратить его действие.

Настоящее Соглашение вступает в силу с даты обмена письменными уведомлениями о выполнении Сторонами необходимых для этого внутригосударственных процедур*.

___________     

* Соглашение вступило в силу 16 июля 1996 г.

Совершено в Москве 13 июня 1996 г., в двух экземплярах на русском языке, причем оба текста имеют одинаковую силу.

Приложение
 к Соглашению между Правительством
                         Российской Федерации и Правительством
                        Республики Белоруссия о сотрудничестве
                      в области создания оптико-механического и
                      контрольного оборудования для производства
                          сверхбольших интегральных схем
                       с топологическими элементами 0,8-0,5 мкм


Совместная российско-белорусская
научно-техническая программа "Разработка и создание
оптико-механического и контрольного оборудования
для производства сверхбольших интегральных  схем
с  топологическими элементами 0,8-0,5 мкм"

1. Введение

Процессы литографии являются определяющими при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем (далее именуются - СБИС). Уровень специального технологического оптико-механического оборудования, устойчивость и прецизионность технологии генерации и переноса изображения служат базисом создания нового поколения СБИС. Все технологические программы США, Европы и Японии в качестве первичной и основополагающей задачи содержат разработку нового класса литографического оборудования (степперы, контрольное оборудование и т.д.), оптимизацию технологии (фазосдвигающие шаблоны, мембранные защитные покрытия, контроль и аттестация промежуточных шаблонов, высококонтрастные стабильные метки автоматического совмещения и т.д.).

Классификация уровня технологии СБИС по размерам элементов не является искусственной, а определяет соответствующий уровень технологии производства, в которой доминирующими являются литографические процессы.

                   

2. Исполнители Программы

Исполнителями настоящей Программы являются ведущие предприятия микроэлектроники России и электронного машиностроения Белоруссии, входящие в научно-техническую ассоциацию по микроэлектронным технологиям "Субмикро". Головными организациями по ее выполнению определены: с Российской Стороны - научно-техническая ассоциация "Субмикро", с Белорусской Стороны - государственный научно-производственный концерн машиностроения "Планар".

                    

3. Цель Программы

Целью настоящей Программы является разработка и создание оптико-механического и контрольного оборудования для производства СБИС с топологическими элементами 0,8-0,5 мкм и отработка технологических процессов на его базе.

              

4. Основные показатели Программы

4.1. Технология 0,6-0,8 мкм.:

Прецизионность -(плюс,минус)15 мкм.

Погрешность совмещения - не более 0,15 мкм.

Размер единичного модуля - 20х20 мм.

Диаметр пластин - 150 мм.

Дефектность (размер дефекта более 0,2 мкм) - не более 0,05 дефектов/кв.см на слой.

Производительность - не менее 40 пластин/час (диаметр - 150 мм, площадь единичного модуля 400 кв.мм).

4.2. Технология 0,5 мкм.:

Прецизионность - (плюс,минус)1 мкм.

Погрешность совмещения - не более 0,1 мкм.

Размер единичного модуля - 15х20 мм.

Диаметр пластин - 150 мм.

Дефектность (размер дефекта более 0,2 мкм) - не более 0,05 дефектов/кв.см на слой.

Производительность - не менее 30 пластин/час (диаметр - 150 мм, площадь единичного модуля 300 кв.мм).

            

5. Основные этапы выполнения Программы

5.1. Разработка и изготовление установок проекционной фотолитографии с совмещением:

степперы для СБИС 0,8 мкм;

степперы для СБИС 0,6 мкм;

степперы для СБИС 0,4-0,5 мкм.

5.2. Разработка и изготовление установок лазерной ретуши для промежуточных шаблонов.

5.3. Разработка и изготовление комплекта контрольного оборудования, всего 9 наименований.

5.4. Отработка технологических процессов - по мере готовности оборудования. Оборудование будет внедрено на пилотных линиях ведущих предприятий микроэлектроники России.

6. Ожидаемые результаты реализации Программы

Выполнение настоящей Программы позволит создать базовое технологическое оборудование проекционной литографии для дальнейшей разработки и выпуска следующих видов СБИС: динамических оперативных запоминающих устройств класса 16 мегабит, базовых матричных кристаллов на 100000 - 1000000 логических вентилей, 32-разрядных микропроцессоров с тактовой частотой 60-200 МГц. Технологический процесс, реализованный на этом оборудовании, будет обладать высокой прецизионностью и устойчивостью к действию внешних факторов, низкой привносимой дефектностью, что обеспечит достижение 70-80 процентов выхода годных СБИС при условии решения всех остальных технологических проблем.

Экономический эффект от реализации настоящей Программы составит 80-100 миллиардов рублей в год в ценах мая 1995 г.


7. Финансирование Программы

  

  

      

   (млн.рублей в ценах мая 1995 г.)

Стороны

Затраты

В том числе

  

  

1996 г.

1997 г.

1998 г.

1999 г.

Российская
Федерация

24000

2000

16000

6000

-

Республика
Белоруссия

24000

2000

8000

10000

4000


          Приведенные в таблице данные отражают затраты Российской Стороны, связанные с разработкой и изготовлением опытных образцов оборудования.

Затраты Белорусской Стороны на подготовку производства 20-25 степперов и 30-40 единиц контрольного оборудования в год эквивалентны затратам Российской Стороны.

8. План реализации Программы



Наименование
оборудования

Сроки
выпол-
нения

Объемы финансирования
(млн. рублей в ценах
мая 1995 г.)

Ожидаемые
результаты




1996
год

1997
год

1998
год

всего


1











Установка совме-
щения и мульти-
пликации для из-
готовления СБИС
технологического
уровня 0,8 мкм
(размер модуля
16х16 мм с про-
работкой возмо-
жности увеличе-
ния до 20х20 мм)

апрель
1996 г.-
апрель
1998 г.








650











2900











350











3900











Разработка техни
ческого задания.
Разработка, изго
товление и испы-
тание двух опыт-
ных образцов,
корректировка те
хнической докуме
нтации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска

2












Эксперименталь-
ная установка
совмещения и му-
льтипликации для
изготовления
СБИС технологи-
ческого уровня
0,6 мкм
(размер модуля
15х15 мм и 10х20
мм с проработкой
возможности уве-
личени я до 20х20
мм)

апрель
1996 г.-
декабрь
1998 г.









300












1700












1200












3200












Разработка техни
ческого задания.
Разработка, изго
товление и испы-
тание эксперимен
тального образца
корректировка те
хнической докуме
нтации.
Принятие темы,
определение по-
рядка дальнейшей
работы

3




















Эксперименталь-
ная установка
совмещения и
проекционного
глубокого ульт-
рафиолетового
экспонирования с
мультипликацией
для исследования
ультрабольших и
сверхскоростных
интегральных
схем технологи-
ческого уровня
0,5 мкм (разре-
шение 0,35-0,45
мкм, размер мо-
дуля 10х20 мм с
проработкой воз-
можности увели-
чения до 15х20
мм)

октябрь
1996 г.-
декабрь
1998 г.

















50




















2050




















1900




















4000




















Разработка техни
ческого задания.
Разработка, изго
товление и испы-
тание эксперимен
тального образца
корректировка те
хнической докуме
нтации.
Принятие темы,
определение по-
рядка дальнейшей
работы








4














Установка лазер-
ного устранения
дефектов проме-
жуточных шабло-
нов










июль
1996 г.-
июнь
1998 г.











50














1700














250














2000














Разработка техни
ческого зад ания.
Разработка базо-
вой установки
комбинированной
ретуши промежуто
чных шаблонов,
изготовление опы
тного образца,
корректировка
технической доку
ментации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска

5


















Доработка и из-
готовление ус-
тановки контро-
ля топологии на
промежуточных
шаблонах (ЭМ-
6029А) с адап-
тацией к систе-
ме автоматизи-
рованного про-
ектирования за-
казчика







июнь
1996 г.-
май
1998 г.















200


















900


















100


















1200


















Разработка техни
ческого задания.
Доработка устано
вки,
изготовление опы
тного образца,
корректировка
технической доку
ментации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска установо
контроля тополо-
гического рисунк
для СБИС динами-
ческих оператив-
ных запоминающих
устройств класса
16 мегабит

6











Установка авто-
матического ко-
нтроля привно-
симых дефектов
промежуточных
шаблонов






август
1996 г.-
декабрь
1998 г.








60











1115











525











1700











Разработка техни
ческого задания.
Разработка, изго
товление и испы-
тание опытного
образца,
корректировка
технической доку
ментации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска

7














Автоматизиро-
ванный микро-
скоп для опе-
ративного ви-
зуального ко-
нтроля проме-
жуточных шаб-
лонов с пле-
ночной защитой






июль
1996 г.-
декабрь
1998 г.











125














840














210














1175














Разработка техни
ческого задания.
Разработка микро
скопа для контро
ля промежуточных
шаблонов с пелли
клами,
изготовление опы
тного образца,
корректировка
технической доку
ментации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска

8   

Доработка опы-
тного образца
установки кон-
троля микроде-
фектов на полу-
проводниковых
пластинах (ЭМ-
6069) с авто-
матизированной
загрузкой









май
1996 г.-
декабрь
1997 г.















180


















870


















-


















1050


















Разработка техни
ческого задания.
Доработка устано
вки автоматичес-
кого контроля де
фектов уровня
СБИС динамически
оперативных запо
минающих уст-
ройств класса 16
мегабит,
изготовление опы
тного образца,
корректировка
технической доку
ментации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска

9














Доработка опыт-
ного образца
установки конт-
роля макродефе-
ктов (ЭМ-6079)










июль
1996 г.-
декабрь
1997 г.











80














340














-














420














Разработка техни
ческого задания.
Доработка устано
вки контроля де-
фектов технологи
ческой обработки
пластин, изготов
ление двух опы-
тных образцов,
корректировка
технической доку
ментации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска

10


















Установка изме-
рения координат
элементов топо-
логии промежу-
точных шаблонов
с контролем сов-
мещаемости ком-
плекта











июль
1996 г.-
август
1998 г.















75


















975


















125


















1175


















Разработка техни
ческого задания.
Разработка уста-
новки, обеспечи-
вающей контроль
промежуточных ша
блонов уровня
СБИС динамичес-
ких оперативных
запоминающих уст
ройств 16-64 ме-
габит, изготовле
ние опытного об-
разца, корректи-
ровка техническо
документации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска

11  

 Установка конт-
роля профиля по-
лупроводниковых
структур с авто-
матической за-
грузкой







июль
1996 г.-
декабрь
1998 г.










50













730













270













1050













Разработка техни
ческого задания.
Разработка уста-
новки контроля
технологических
структур, изгото
вление опытного
образца,
корректировка
технической доку
ментации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска

12












Модернизация ус-
тановки измере-
ния микроразме-
ров (ЭМ-6059)









август
1996 г.-
июль
1998 г.









100












790












185












1075












Разработка техни
ческого задания.
Модернизация ус-
тановки измерени
микроразмеров,
изготовление опы
тного образца,
корректировка
технической доку
ментации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска

13











Зондовый ав-
томат для пла-
стин диаметром
200 мм и эле-
ментом контак-
тирования 1 мкм






июль
1996 г.-
ноябрь
1998 г.








80











1090

885










2055











Разработка техни
ческого задания.
Разработка зондо
вого автомата,
изготовление дву
опытных образцов
корректировка
технической доку
ментации.
Принятие темы,
определение объе
ма дальнейшего
выпуска.

Итого

20001

6000

  6000

  24000


       Примечания:

1. В процессе выполнения настоящая Программа может корректироваться по согласованию Сторон.

              

2. Координацию работ по Программе и контроль за ее выполнением  осуществляет  научно-техническая  ассоциация  по микроэлектронным технологиям "Субмикро".







Этот документ входит в профессиональные
справочные системы «Кодекс» и  «Техэксперт»