В настоящем стандарте приведены значения структурных характеристик по результатам контрольных высокоточных измерений на современном дифрактометрическом оборудовании и по результатам сравнения с обоснованными дифрактометрическими данными из научных литературных источников.
Для высокоточных контрольных экспериментов используют измерительную систему, позволяющую получить достаточно полную дифракционную картину с применением коротковолнового излучения рентгеновской трубки, которая включает: источник излучения, гониометрическую часть, детекторы отраженного излучения, программное обеспечение для управления работой различных частей дифрактометрической системы и обработки массивов данных и для расчета величин структурных параметров.