ГОСТ Р МЭК 60904-2-2013 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным приборам

     12 Калибровка вторичного эталонного прибора по первичному эталонному прибору

В настоящем разделе описана методика калибровки вторичного эталонного прибора при естественном или искусственном солнечном освещении по первичному эталонному прибору, калибровка которого характеризуется прослеживаемостью к Международной Системе Единиц СИ. Несоответствие спектральных чувствительностей первичного эталонного элемента и вторичного эталонного прибора при используемом освещении определяют в соответствии с МЭК 60904-7. Поправку на спектральное несоответствие, если она не превышает 1%, не учитывают.

Калибровку допускается проводить с использованием как естественного, так и искусственного солнечного излучения в соответствии с МЭК 60904-1 с учетом ниже перечисленных ограничений.

12.1 Естественное солнечное излучение

Калибровку с использованием естественного солнечного излучения проводят при следующих условиях:

12.1.1 Ясная солнечная погода, ЭО рассеянного излучения не должна превышать 30% от ЭО суммарного излучения.

12.1.2 Отсутствие видимых облаков.

12.1.3 ЭО суммарного излучения (солнце+небо+отражение от земли), измеренная первичным эталонным элементом, должна быть не менее 800 Вт·м.

12.1.4 Оптическая масса атмосферы - в пределах между АМ1 и АМ2.

12.1.5 Излучение должно быть достаточно стабильным, так чтобы изменения выходного сигнала элемента были в пределах ±0,5% в течение времени, необходимого для измерений.

12.2 Искусственное солнечное излучение

При калибровке с использованием искусственного солнечного излучения имитатор должен соответствовать классу ААА в соответствии с МЭК 60904-9. При этом неоднородность ЭО по поверхности калибруемого прибора должна быть в пределах ±1%.

Если требование по однородности излучения для калибруемого эталонного модуля, изготовленного из последовательно соединенных элементов, не выполняется, проводят детальный анализ неопределенности измерений с учетом несоответствия токов короткого замыкания отдельных элементов.

12.3 Методика тестирования

12.3.1 Перед калибровкой измеряют относительную спектральную чувствительность и температурный коэффициент тока короткого замыкания вторичного эталонного прибора в соответствии с методиками, приведенными в МЭК 60891, МЭК 61215 или МЭК 61646 и МЭК 60904-8.

12.3.2 Первичный эталонный элемент и вторичный эталонный прибор устанавливают в одной плоскости с отклонением в пределах ±1° в непосредственной близости друг от друга на одном основании. Основание устанавливают так, чтобы лучи источника излучения падали на приборы перпендикулярно с точностью в пределах ±5°.

12.3.3 Температуру элементов первичного элемента и вторичного эталона поддерживают на уровне (25±2)°С. В отсутствии практической возможности поддержания заданной температуры проводят коррекцию величины выходного сигнала к уровню 25 °С в соответствии с МЭК 60891.

12.3.4 Одновременно регистрируют значения выходных сигналов и температуры первичного эталонного элемента и вторичного эталонного прибора. Измеряют спектральную плотность энергетической освещенности (СПЭО). В натурных условиях СПЭО измеряют в процессе регистрации выходных сигналов.

12.3.5 Повторяют операции по 12.3.4 до тех пор, пока не будут последовательно зарегистрированы пять пар выходных сигналов (приведенных к 25 °С и скорректированных с учетом спектрального несоответствия), для которых изменение отношения сигналов остается в пределах ±0,5%.

12.3.6 При калибровке при естественном солнечном излучении проводят операции по 12.3.2-12.3.5 по меньшей мере, дважды в день в течение трех дней.

12.3.7 После получения приемлемых данных вычисляют среднее значение отношения:

.

12.3.8 Для получения калибровочного значения вторичного эталонного прибора вычисленное среднее значение умножают на калибровочное значение первичного эталонного элемента.