Модифицированная цепь для испытания на короткое замыкание полупроводниковых контроллеров и пускателей
D - испытуемый аппарат (ИА) (в том числе соединительные кабели)
Примечание - Габариты включают в себя металлический экран или оболочку.
Рисунок I.1 - Модифицированная цепь для испытания на короткое замыкание полупроводниковых аппаратов
Стандартные схемы для испытаний на короткое замыкание проиллюстрированы в ГОСТ Р 50030.1 (рисунки 9-12).
Настоящая схема показывает модификацию только одной фазы стандартной однофазной испытательной цепи для испытаний на короткое замыкание полупроводниковых контроллеров. Модификации каждой фазы для испытания многофазных аппаратов аналогичны. Единственные изменения, которые необходимо провести, показаны на рисунке I.2.
T0 - размыкание короткозамыкателя [перечисление a) 9.3.4.1.6];
T1 - подача питания в испытательную цепь [перечисление b) 9.3.4.1.6];
T2 - короткозамыкатель замкнут [перечисление c) 9.3.4.1.6];
T3 - УЗКЗ ликвидирует повреждение
Рисунок I.2 - Временная ось для испытаний на короткое замыкание в соответствии с 9.3.4.1.6