ГОСТ Р МЭК 60122-1-2009

Группа Э20

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

РЕЗОНАТОРЫ ОЦЕНИВАЕМОГО КАЧЕСТВА КВАРЦЕВЫЕ

Часть 1

Общие технические условия

Quartz crystal units of assessed quality. Part 1. General specifications

ОКС 31.140

ОКП 61 2100

Дата введения 2011-01-01

Предисловие

Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. N 184-ФЗ "О техническом регулировании", а правила применения национальных стандартов Российской Федерации - ГОСТ Р 1.0-2004 "Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения"

Сведения о стандарте

1 РАЗРАБОТАН Открытым акционерным обществом "Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" (ОАО РНИИ "Электронстандарт")

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 303 "Изделия электронной техники, материалы и оборудование"

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 15 декабря 2009 г. N 1202-ст

4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту МЭК 60122-1:2002 "Резонаторы оцениваемого качества кварцевые. Часть 1. Общие технические условия" (IEC 60122-1:2002 "Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification", IDT).

При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведения о которых приведены в дополнительном приложении А

5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты", а текст изменений и поправок - в ежемесячно издаваемых информационных указателях "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользователя - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет

     1 Общие положения

     1.1 Область применения

Настоящий стандарт распространяется на кварцевые резонаторы оцениваемого качества (далее - резонаторы).

Настоящий стандарт содержит общие требования и методы испытаний резонаторов, а также устанавливает процедуры аттестации технических возможностей или аттестации резонаторов конкретных типов.

     1.2 Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие международные стандарты:

МЭК 60027 (все части) Буквенные обозначения, используемые в области электротехники

МЭК 60050 (561):1991 Международный электротехнический словарь. Глава 561. Устройства пьезоэлектрические для регулировки (подстройки) и выбора частоты

МЭК 60068-1:1988 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 1. Общие положения и руководство

МЭК 60068-2-1:1990* Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание А. Холод

________________

* Заменен на МЭК 60068-2-1:2007.

МЭК 60068-2-2:1974* Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание В. Сухое тепло

________________

* Заменен на МЭК 60068-2-2:2007.

МЭК 60068-2-3:1969* Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание Са. Влажное тепло, постоянный режим

________________

* Заменен на МЭК 60068-2-78:2001.

МЭК 60068-2-6:1995 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание Fc. Вибрация (синусоидальная)

МЭК 60068-2-7:1983 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание Ga. Линейное ускорение

МЭК 60068-2-13:1983 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание М. Пониженное атмосферное давление

МЭК 60068-2-14:1984 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание N. Смена температур

МЭК 60068-2-17:1994 Основные методы испытания на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание Q. Герметичность

МЭК 60068-2-20:1979 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание Т. Пайка

МЭК 60068-2-21:1999* Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание U. Прочность выводов и их крепление к корпусу изделия

________________

* Заменен на МЭК 60068-2-21:2006.

МЭК 60068-2-27:1987 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание Еа. Удар

МЭК 60068-2-29:1987 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание Еb. Многократные удары

МЭК 60068-2-30:1980* Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание Db. Влажное тепло, циклический режим (12 ч + 12 ч)

________________

* Заменен на МЭК 60068-2-30:2005.

МЭК 60068-2-32:1975 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание Ed. Свободное падение (метод 1)

МЭК 60068-2-45:1980 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытание ХА. Погружение в очищающие растворители

МЭК 60122-3:2001 Кварцевые резонаторы оценочного качества. Часть 3. Стандартизованные габаритные размеры и штыревые соединения

МЭК 60444-1:1986 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в -образной схеме. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и сопротивления кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой и в -образной схеме

МЭК 60444-2:1980 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в -образной схеме. Часть 2. Измерение динамической емкости кварцевых резонаторов методом сдвига фазы

МЭК 60444-4:1988 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в -образной схеме. Часть 4. Метод измерения резонансной частоты под нагрузкой , резонансного сопротивления под нагрузкой и расчет других производных величин кварцевых резонаторов до 30 МГц включительно

МЭК 60444-5:1995 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в -образной схеме. Часть 5. Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием автоматических схемных анализаторов и коррекции погрешностей

МЭК 60444-6:1995 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в -образной схеме. Часть 6. Измерение зависимости уровня возбуждения (DLD)

МЭК 60617 (все части) Обозначения условные графические для схем

МЭК 61178-2:1993 Резонаторы кварцевые. Технические условия в Системе сертификации электронных компонентов МЭК (IECQ). Часть 2. Групповые ТУ. Утверждение технических возможностей

МЭК 61178-3:1993 Резонаторы кварцевые. Технические условия в Системе сертификации электронных компонентов МЭК (IECQ). Часть 3. Групповые ТУ. Утверждение соответствия

МЭК QC 001001:2000 Система сертификации электронных компонентов МЭК (IECQ). Основные правила

МЭК QC 001002-2:1998 Система сертификации электронных компонентов МЭК (IECQ). Часть 2. Документация

МЭК QC 001002-3:1998 Система сертификации электронных компонентов МЭК (IECQ). Часть 3. Процедуры утверждения

МЭК QC 001005:2000 Перечень фирм, изделий и услуг, аттестованных в Системе с учетом ИСО 9000

ИСО 1000:1992 Единицы Системы СИ и рекомендации по применению кратных им и некоторых других единиц

     1.3 Порядок предпочтительности

При нескольких видах документов следующий порядок предпочтительности:

- технические условия (ТУ) на компоненты конкретных типов;

- групповые ТУ;

- общие ТУ;

- любые другие международные документы (например, МЭК), на которые приведена ссылка.

     2 Термины и определения

     2.1 Общие положения

Единицы измерения, графические и буквенные обозначения и термины, используемые в настоящем стандарте, - по МЭК 60027, МЭК 60050(561), МЭК 60617и ИСО 1000.

     2.2 Термины и определения

В данном подразделе приведены дополнительные термины с соответствующими определениями:

2.2.1 кристаллический элемент (кристаллическая пластина) [crystal element (crystal blank)]: Пьезоэлектрический материал, имеющий определенную геометрическую форму, размеры и ориентацию относительно кристаллографических осей кристалла.

2.2.2 электрод (electrode): Токопроводящая пластина или пленка, контактирующая с поверхностью кристаллического элемента или расположенная вблизи нее, с помощью которой к кристаллическому элементу прикладывают электрическое поле.

2.2.3 пьезоэлектрический резонатор (crystal resonator): Закрепленный кристаллический элемент, который вибрирует при наличии электрического поля между электродами.

2.2.4 держатель (mounting): Устройство, с помощью которого пьезоэлектрический резонатор удерживается внутри корпуса.

2.2.5 корпус (closure): Часть конструкции, предохраняющая один или несколько пьезоэлектрических резонаторов, установленных в держателе, от влияния внешних воздействий.

2.2.6 тип корпуса (enclosure type): Корпус кварцевого резонатора, имеющий конкретные габаритные размеры и изготовленный из конкретного материала с определенным методом герметизации.

2.2.7 кварцевый резонатор (crystal unit): Пьезоэлектрический резонатор, смонтированный в корпус, основным элементом которого является кварцевый кристаллический элемент.

2.2.8 цоколь (socket): Устройство для крепления и электрического соединения кварцевого резонатора.

2.2.9 вид колебаний (mode of vibration): Характер движения элементарных частиц в колеблющемся кристаллическом элементе, обусловленный прилагаемыми механическими нагрузками, частотой колебаний при определенных граничных условиях.

Основные виды колебаний:

- изгиб;

- продольные;

- сдвиг по контуру;

- сдвиг по толщине.

2.2.10 кварцевый резонатор, возбуждаемый на основной частоте (fundamental crystal unit): Кварцевый резонатор, предназначенный для работы на колебаниях самого низкого порядка для данного вида колебаний.

2.2.11 кварцевый резонатор, возбуждаемый на гармонике (overtone crystal unit): Кварцевый резонатор, предназначенный для работы на колебаниях более высокого порядка, чем самый низкий для данного вида колебаний.