ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ, ИСПОЛЬЗУЕМЫЕ ПРИ ИЗМЕРЕНИЯХ
ОТКЛОНЕНИЙ ФОРМЫ И РАСПОЛОЖЕНИЯ
1. Измеренный профиль - приближенное отображение реального профиля, полученное в результате непрерывного или дискретного (точечного) измерения (ощупывания) его.
2. Измеренная поверхность - приближенное отображение реальной поверхности, полученное в результате ее измерения (ощупывания).
3. Фильтрованный профиль - измеренный профиль, у которого с помощью аналогового (механического или электрического) или цифрового фильтра исключены определенные составляющие шероховатости поверхности и (или) отклонения формы.
4. Фильтрованная поверхность - измеренная поверхность, полученная как совокупность фильтрованных профилей.
5. Фильтр для исключения шероховатости поверхности - электрический фильтр нижних частот, служащий для исключения в измеренном профиле коротковолновых составляющих, т.е. для исключения шероховатости.
6. Предельная длина волны - длина синусоидальной волны, амплитуда которой передается на 75% фильтром, исключающим шероховатость поверхности.
7. Предельное число колебаний - число синусоидальных волн на один оборот детали, амплитуда которых передается на 75% фильтром, исключающим шероховатость поверхности.